| 講演名 | 2020-02-14 情報システムの信頼の起点となるハードウェアセキュリティ 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2019-55,EMD2019-55 |
| 発行日 | 2020-02-07 (R, EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD / R |
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| 開催期間 | 2020/2/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | 静岡大学 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：静岡大学, 信頼性研究会，IEEE EPS JAPAN） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 和田 真一(TMCシステム) / 安里 彰(富士通) |
| 委員長氏名（英） | Shinichi Wada(TMC System) / Akira Asato(Fujitsu) |
| 副委員長氏名（和） | 萓野 良樹(電通大) / 土肥 正(広島大) |
| 副委員長氏名（英） | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Tadashi Dohi(Hiroshima Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 鈴木 健司(富士電機機器制御) / 水上 雅人(室蘭工大) / 田村 信幸(法政大) / 井上 真二(関西大) |
| 幹事氏名（英） | Kenji Suzuki(Fuji Electric) / Masato Mizukami(Muroran Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 林 優一(奈良先端大) / 岡村 寛之(広島大) / 横川 慎二(電通大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yuichi Hayashi(ＮＡＩＳＴ) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) / Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices / Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 情報システムの信頼の起点となるハードウェアセキュリティ |
| サブタイトル（和） | 電磁波セキュリティに焦点をあてて |
| タイトル（英） | Hardware security as a root of trust in information systems |
| サブタイトル（和） | Focusing on EM information security |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2020-02-14 |
| 資料番号 | R2019-55,EMD2019-55 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | R-411,EMD-412 |
| ページ範囲 | pp.7-11(R), pp.7-11(EMD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2020-02-07 (R, EMD) |