講演名 | 2020-02-14 150V-600VDC/10A抵抗性負荷回路内で発生する開離時アークのPTFE製の分断板による狭小空間内での強制分断 木村 雄一朗(静岡大), 関川 純哉(静岡大), |
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抄録(和) | |
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資料番号 | R2019-57,EMD2019-57 |
発行日 | 2020-02-07 (R, EMD) |
研究会情報 | |
研究会 | EMD / R |
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開催期間 | 2020/2/14(から1日開催) |
開催地(和) | 静岡大学 |
開催地(英) | |
テーマ(和) | 機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:静岡大学, 信頼性研究会,IEEE EPS JAPAN) |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | 和田 真一(TMCシステム) / 安里 彰(富士通) |
委員長氏名(英) | Shinichi Wada(TMC System) / Akira Asato(Fujitsu) |
副委員長氏名(和) | 萓野 良樹(電通大) / 土肥 正(広島大) |
副委員長氏名(英) | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Tadashi Dohi(Hiroshima Univ.) |
幹事氏名(和) | 鈴木 健司(富士電機機器制御) / 水上 雅人(室蘭工大) / 田村 信幸(法政大) / 井上 真二(関西大) |
幹事氏名(英) | Kenji Suzuki(Fuji Electric) / Masato Mizukami(Muroran Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | 林 優一(奈良先端大) / 岡村 寛之(広島大) / 横川 慎二(電通大) |
幹事補佐氏名(英) | Yuichi Hayashi(NAIST) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) / Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices / Technical Committee on Reliability |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 150V-600VDC/10A抵抗性負荷回路内で発生する開離時アークのPTFE製の分断板による狭小空間内での強制分断 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Forcible division of break arcs in small space occurring in a 150V-400VDC/10A resistive circuit by a dividing plate made of PTFE |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 木村 雄一朗 / Yuichiro Kimura |
第 1 著者 所属(和/英) | 静岡大学(略称:静岡大) Shizuoka University(略称:Shizuoka Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 関川 純哉 / Junya Sekikawa |
第 2 著者 所属(和/英) | 静岡大学(略称:静岡大) Shizuoka University(略称:Shizuoka Univ.) |
発表年月日 | 2020-02-14 |
資料番号 | R2019-57,EMD2019-57 |
巻番号(vol) | vol.119 |
号番号(no) | R-411,EMD-412 |
ページ範囲 | pp.17-21(R), pp.17-21(EMD), |
ページ数 | 5 |
発行日 | 2020-02-07 (R, EMD) |