講演名 2020-02-26
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
中西 遼太郎(徳島大), 四柳 浩之(徳島大), 橋爪 正樹(徳島大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 DC2019-88
発行日 2020-02-19 (DC)

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2020/2/26(から1日開催)
開催地(和) 機械振興会館
開催地(英)
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 福本 聡(首都大東京)
委員長氏名(英) Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.)
副委員長氏名(和) 高橋 寛(愛媛大)
副委員長氏名(英) Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.)
幹事氏名(和) 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大)
幹事氏名(英) Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語 JPN
タイトル(和) 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) A study on temperature dependence on discrimination of resistive opens using machine learning-based anomaly detection
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 中西 遼太郎 / Ryotaroh Nakanishi
第 1 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi
第 2 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume
第 3 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami
第 4 著者 所属(和/英) 愛媛大学(略称:愛媛大)
Ehime University(略称:Ehime Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi
第 5 著者 所属(和/英) 愛媛大学(略称:愛媛大)
Ehime University(略称:Ehime Univ.)
発表年月日 2020-02-26
資料番号 DC2019-88
巻番号(vol) vol.119
号番号(no) DC-420
ページ範囲 pp.13-18(DC),
ページ数 6
発行日 2020-02-19 (DC)