講演名 | 2020-02-26 網羅的ハ?ス解析による高精度な再利用FPGA検出手法 新谷 道広(奈良先端大), アフメド フォイサル(奈良先端大), 井上 美智子(奈良先端大), |
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抄録(和) | |
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キーワード(和) | |
キーワード(英) | |
資料番号 | DC2019-96 |
発行日 | 2020-02-19 (DC) |
研究会情報 | |
研究会 | DC |
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開催期間 | 2020/2/26(から1日開催) |
開催地(和) | 機械振興会館 |
開催地(英) | |
テーマ(和) | VLSI設計とテストおよび一般 |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | 福本 聡(首都大東京) |
委員長氏名(英) | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
副委員長氏名(和) | 高橋 寛(愛媛大) |
副委員長氏名(英) | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
幹事氏名(和) | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
幹事氏名(英) | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 網羅的ハ?ス解析による高精度な再利用FPGA検出手法 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Accurate Recycled FPGA Detection Based on Exhaustive Path Analysis |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 新谷 道広 / Michihiro Shintani |
第 1 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
第 2 著者 氏名(和/英) | アフメド フォイサル / Foisal Ahmed |
第 2 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 井上 美智子 / Michiko Inoue |
第 3 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
発表年月日 | 2020-02-26 |
資料番号 | DC2019-96 |
巻番号(vol) | vol.119 |
号番号(no) | DC-420 |
ページ範囲 | pp.61-66(DC), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2020-02-19 (DC) |