| 講演名 | 2020-02-26 LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 史 傑(九工大), 宮瀬 紘平(九工大), 温 暁青(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時間増加による誤テストが発生する可能性がある．一方，LSIテスト時の消費電力が低すぎると正常なテストができない場合もあり，微小遅延故障の検出が困難になる可能性がある．そのため，LSIテスト時は適切な消費電力で実施する必要がある．回路内部の消費電力を削減・増加することを消費電力制御と呼び，本研究では消費電力を制御するエリアを絞り込むことで消費電力制御率の向上を目的とし，本研究では絞り込んだエリアの信号値変化の容易性について調査した． |
| 抄録(英) | Power consumption in LSI testing is larger than in functional mode. High power consumption causes excessive IR-drop and excessive delay resulting in test malfunction. On the other hand, extremely lower power than in functional mode may reduce detectability of small delay fault. Therefore, LSI test requires appropriate power consumption. The purpose of this work is to improve controllability of power consumption in LSI testing by applying power controlling techniques in specified areas. In this work, we examine the controllability of power consumption in the specified areas. |
| キーワード(和) | 実速度テスト / 遷移遅延故障テスト / 誤テスト / テスト時の消費電力 / 消費電力制御 |
| キーワード(英) | at-speed testing / transition delay test / test malfunction / power consumption in LSI testing / controlling test power |
| 資料番号 | DC2019-94 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2020/2/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improving Controllability of Signal Transitions in the High Switching Area of LSI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / at-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | 遷移遅延故障テスト / transition delay test |
| キーワード(3)（和/英） | 誤テスト / test malfunction |
| キーワード(4)（和/英） | テスト時の消費電力 / power consumption in LSI testing |
| キーワード(5)（和/英） | 消費電力制御 / controlling test power |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 史 傑 / Jie Shi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 発表年月日 | 2020-02-26 |
| 資料番号 | DC2019-94 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | DC-420 |
| ページ範囲 | pp.49-54(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |