| 講演名 | 2020-02-26 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 青野 智己(愛媛大), 中岡 典弘(愛媛大), 周 細紅(愛媛大), 王 森レイ(愛媛大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大), 岩田 浩幸(ルネサス エレクトロニクス), 前田 洋一(ルネサス エレクトロニクス), 松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス), |
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| 抄録(和) | 車載システムの機能安全を保障するためには，システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である．POSTでは，厳しいテスト時間制約の下で機能安全基準を満たす故障検出率を達成しなければならない．本稿では，マルチサイクルテストを用いたPOSTのテスト時間短縮および故障検出率向上のために，マルチサイクルテストに適したテストポイント挿入法を提案する．提案法は，マルチサイクルに時間展開した論理回路のテスタビリティを考慮してテストポイントの挿入箇所を選定する．提案法をベンチマーク回路に適用した評価実験によって提案法の効果を評価する． |
| 抄録(英) | For guaranteeing the functional safety of an in-vehicle system, a power-on self-test (POST) is required to test the devices of system with high fault coverage (e.g.: >90% for stuck-at faults) and within extremely limited test application time TAT (e.g.: <50ms) at the system startup. Multi-cycle test looks promising a way to satisfy these requirements of POST, however, faces a challenge of fault detection degradation (FDD) problem that would obstruct the further test reduction of multi-cycle test. This paper propose a test point insertion approach to address such problem for improving the testability of CUT (circuit under test) in multi-cycle test scheme. In the proposed approach, we also proposed the selection algorithm to determine the most effective location for test point insertion in consideration of the testability of the time-expanded logic circuit under multi-cycle test. We show the effectiveness of the proposed method by an evaluation experiments on benchmark circuits. |
| キーワード(和) | POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / ISO26262 |
| キーワード(英) | POST / LBIST / Multi-cycle Test / Functional Safety / ISO26262 |
| 資料番号 | DC2019-89 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2020/2/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Method for Inserting Fault-Detection-Strengthened Test Point under Multi-cycle Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | POST / POST |
| キーワード(2)（和/英） | LBIST / LBIST |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-cycle Test |
| キーワード(4)（和/英） | 機能安全規格 / Functional Safety |
| キーワード(5)（和/英） | ISO26262 / ISO26262 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 青野 智己 / Tomoki Aono |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中岡 典弘 / Norihiro Nakaoka |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 周 細紅 / Shyu Saikou |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Wang Senling |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Higami Yoshinobu |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata |
| 第 7 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 前田 洋一 / Youichi Maeda |
| 第 8 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas) |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima |
| 第 9 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas) |
| 発表年月日 | 2020-02-26 |
| 資料番号 | DC2019-89 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | DC-420 |
| ページ範囲 | pp.19-24(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |