講演名 2020-02-27
深層学習による幾何学的エッジ抽出を用いた単眼奥行き推定
金子 真也(東大), 櫻田 健(産総研), 池畑 諭(NII), 相澤 清晴(東大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 ITS2019-44,IE2019-82
発行日 2020-02-20 (ITS, IE)

研究会情報
研究会 ITE-HI / IE / ITS / ITE-MMS / ITE-ME / ITE-AIT
開催期間 2020/2/27(から2日開催)
開催地(和) 北海道大学
開催地(英) Hokkaido Univ.
テーマ(和) 画像処理および一般
テーマ(英) Image Processing, etc.
委員長氏名(和) 永井 岳大(東工大) / / / 石井 紀彦(NHK) / 田川 憲男(首都大) / 向井 信彦(東京都市大)
委員長氏名(英) Takehiro Nagai(Tokyo Inst. of Tech.) / / / Norihiko Ishii(NHK) / Norio Tagawa(Tokyo Metropolitan Univ.) / Nobuhiko Mukai(Tokyo Cisy Univ.)
副委員長氏名(和) / / / / 新井 啓之(日本工業大) / 名手 久貴(東京工芸大)
副委員長氏名(英) / / / / Hiroyuki Arai(Nippon Institute of Technology) / Hisaki Nate(Tokyo Polytechnic Univ.)
幹事氏名(和) 磯貝 愛(NTT) / / / 文仙 正俊(福岡大) / 船橋 信彦(NHK) / 望月 貴裕(NHK) / 小川 貴弘(北海道大) / 城 堅誠(ソニーセミコンダクタソリューションズ)
幹事氏名(英) Megumi Isogai(NTT) / / / Masatoshi Bunsen(Fukuoka Univ.) / Nobuhiko Funabashi(NHK) / Takahiro Mochizuki(NHK) / Takahiro Ogawa(Hokkaido Univ.) / Kensei Jo(Sony Semiconductor Solutions)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Group on Human Inormation / Technical Committee on Image Engineering / Technical Committee on Intelligent Transport Systems Technology / Technical Group on Multi-media Storage / Technical Group on Media Engineering / Technical Group on Artistic Image Technology
本文の言語 JPN
タイトル(和) 深層学習による幾何学的エッジ抽出を用いた単眼奥行き推定
サブタイトル(和)
タイトル(英) Learning Structural Edges for Deep Patch Depth Prediction
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 金子 真也 / Masaya Kaneko
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学(略称:東大)
The University of Tokyo(略称:The Univ. of Tokyo)
第 2 著者 氏名(和/英) 櫻田 健 / Ken Sakurada
第 2 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 池畑 諭 / Satoshi Ikehata
第 3 著者 所属(和/英) 国立情報学研究所(略称:NII)
National Institute of Informatics(略称:NII)
第 4 著者 氏名(和/英) 相澤 清晴 / Kiyoharu Aizawa
第 4 著者 所属(和/英) 東京大学(略称:東大)
The University of Tokyo(略称:The Univ. of Tokyo)
発表年月日 2020-02-27
資料番号 ITS2019-44,IE2019-82
巻番号(vol) vol.119
号番号(no) ITS-421,IE-422
ページ範囲 pp.233-238(ITS), pp.233-238(IE),
ページ数 6
発行日 2020-02-20 (ITS, IE)