| 講演名 | 2020-02-26 n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法 竹内 勇希(日大), 細川 利典(日大), 山崎 紘史(日大), 吉村 正義(京都産大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年，VLSIの微細化，高速化にともない，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しかしながら，テスト不能な遷移故障数が縮退故障と比較し，数多く存在するため，構造テストという観点では，現状の遷移の故障検出率のテストでは不十分であり，潜在的なタイミング欠陥を見逃す可能性がある．そのため，遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である．本論文では，遷移故障モデルにおいて，n入力マルチプレクサの制御信号線のテストを可能にするためのLOCテスト生成モデルを提案する．LOCテスト生成モデルの制御信号値割当てをコントローラ拡大により実現する．高位レベルベンチマーク回路に対する実験結果は，提案手法が，それらのデータパスの遷移故障に対して100%故障検出率を達成したことを示す． |
| 抄録(英) | With the complexity for VLSIs, transition fault testing is required. However, VLSIs generally have more untestable transition faults than untestable stuck at faults due to the circuit structures. From the view point of structural testing, transition fault coverage might be insufficient and potential timing defects might be escaped. Therefore, design-for-testability to improve transition fault coverage is important. In this paper, we propose LOC test generation models to test control signal lines of multiplexers with n-inputs. The assignments of control signals for the LOC test generation models are realized by controller augmentation. Our experimental results for high-level benchmark circuits show that the proposed method achieved 100% fault coverage for transition faults in the data-paths. |
| キーワード(和) | コントローラ拡大 / テスト活性化用状態遷移ペア / マルチプレクサ / LOC |
| キーワード(英) | controller augmentation / test sensitization states / multiplexers / launch on capture |
| 資料番号 | DC2019-90 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2020/2/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A controller augmentation method to reduce the number of untestable faults for multiplexers with n-inputs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | コントローラ拡大 / controller augmentation |
| キーワード(2)（和/英） | テスト活性化用状態遷移ペア / test sensitization states |
| キーワード(3)（和/英） | マルチプレクサ / multiplexers |
| キーワード(4)（和/英） | LOC / launch on capture |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 竹内 勇希 / Yuki Takeuchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyo University(略称：Kyoto Sangyo Univ.) |
| 発表年月日 | 2020-02-26 |
| 資料番号 | DC2019-90 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | DC-420 |
| ページ範囲 | pp.25-30(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |