| 講演名 | 2020-01-24 多様な画像への応用に向けたストカスティック数を用いたエッジ検出手法 篠崎 直人(芝浦工大), 宇佐美 公良(芝浦工大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | ストカスティックコンピューティング(SC)はビット列中の1の存在確率を値とした近似演算手法である．SCの演算ではストカスティック数(SN:Stochastic Number)と呼ばれる確率数が必要で，バイナリ数をSNに正確に変換するには多くのビットが必要となる．しかし，画像処理の分野では必ずしもすべての画素を正確に表現せずとも人間の目で認識することができる場合がある．そこで本研究では，SNのビット長を削減しながら様々な画像とエッジ検出アルゴリズムでエッジ検出を行い，それぞれの画像に応じたビット長削減による画質への影響や消費エネルギーとのトレードオフを明らかにする． |
| 抄録(英) | Stochastic computing (SC) is an approximate calculation method with the existence probability of 1 in a bit string as a value. In SC operations, a probability number called a stochastic number (SN) is required, and many bits are required to accurately convert a binary number into an SN. However, in the field of image processing, there are cases where not all pixels are necessarily expressed accurately but can be recognized by the human eye. Therefore, in this paper, edge detection is performed with various image and the effect on image quality and the trade-off with energy consumption are clarified according to each image. |
| キーワード(和) | ストカスティックコンピューティング / エッジ検出 |
| キーワード(英) | Stochastic computing / Edge detection |
| 資料番号 | VLD2019-87,CPSY2019-85,RECONF2019-77 |
| 発行日 | 2020-01-15 (VLD, CPSY, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IPSJ-SLDM / RECONF / VLD / CPSY / IPSJ-ARC |
|---|---|
| 開催期間 | 2020/1/22(から3日開催) |
| 開催地（和） | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 |
| 開催地（英） | Raiosha, Hiyoshi Campus, Keio University |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc. |
| 委員長氏名（和） | 田宮 豊(富士通研) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 戸川 望(早大) / 入江 英嗣(東大) / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Yutaka Tamiya(Fujitsu Lab.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 福田 大輔(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) |
| 副委員長氏名（英） | / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) |
| 幹事氏名（和） | 土谷 亮(滋賀県大) / 岩崎 裕江(NTT) / 佐々木 通(三菱電機) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小平 行秀(会津大) / 桜井 祐市(日立) / 津邑 公暁(名工大) / 高前田 伸也(北大) / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Akira Tsuchiya(Univ. Shiga Prefecture) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Toru Sasaki(Mitsubishi Electric) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Yuichi Sakurai(Hitachi) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Labs.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 池田 一樹(日立) / 有間 英志(東大) / 小川 周吾(日立) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Kazuki Ikeda(Hitachi) / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) / Shugo Ogawa(Hitachi) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Computer Systems / Special Interest Group on System Architecture |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 多様な画像への応用に向けたストカスティック数を用いたエッジ検出手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Edge detection algorithms using stochastic architectures for various images |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ストカスティックコンピューティング / Stochastic computing |
| キーワード(2)（和/英） | エッジ検出 / Edge detection |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 篠崎 直人 / Naoto Shinozaki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学(略称：芝浦工大) Shibaura Institute Of Technology(略称：SIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学(略称：芝浦工大) Shibaura Institute Of Technology(略称：SIT) |
| 発表年月日 | 2020-01-24 |
| 資料番号 | VLD2019-87,CPSY2019-85,RECONF2019-77 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | VLD-371,CPSY-372,RECONF-373 |
| ページ範囲 | pp.199-204(VLD), pp.199-204(CPSY), pp.199-204(RECONF), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-01-15 (VLD, CPSY, RECONF) |