| 講演名 | 2020-01-17 [Poster Presentation] Simulation and Experimental Evaluation of Bit Error Rates of Adiabatic Quantum Flux Parametron Circuits Including Thermal Noises 伊東 大樹(横浜国大), 竹内 尚輝(横浜国大), 山梨 裕希(横浜国大), 吉川 信行(横浜国大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | SCE2019-57 |
| 発行日 | 2020-01-09 (SCE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 2020/1/16(から2日開催) |
| 開催地（和） | 横浜市開港記念会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 超伝導エレクトロニクス一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 神代 暁(産総研) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Kohjiro(AIST) |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | 竹内 尚輝(横浜国大) / 三木 茂人(NICT) |
| 幹事氏名（英） | Naoki Takeuchi(Yokohama National Univ.) / Shigehito Miki(NICT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 赤池 宏之(大同大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Hiroyuki Akaike(Daido Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Superconductive Electronics |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] Simulation and Experimental Evaluation of Bit Error Rates of Adiabatic Quantum Flux Parametron Circuits Including Thermal Noises |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 伊東 大樹 / Daiki Ito |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院理工学府(略称：横浜国大) Department of Electrical and Computer Engineering , Yokohama National University(略称：YNU) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 竹内 尚輝 / Naoki Takeuchi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学先端科学高等研究院(略称：横浜国大) Institute of Advanced Sciences, Yokohama National University(略称：IAS) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山梨 裕希 / Yuki Yamanashi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院理工学府(略称：横浜国大) Department of Electrical and Computer Engineering , Yokohama National University(略称：YNU) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院理工学府(略称：横浜国大) Department of Electrical and Computer Engineering , Yokohama National University(略称：YNU) |
| 発表年月日 | 2020-01-17 |
| 資料番号 | SCE2019-57 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | SCE-369 |
| ページ範囲 | pp.111-115(SCE), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2020-01-09 (SCE) |