講演名 | 2019-12-19 再帰的手順に基づくSパラメータの間接測定法 前田 登(SOKEN), 福井 伸治(SOKEN), 関根 敏和(岐阜大), 高橋 康宏(岐阜大), |
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抄録(和) | 相反多ポート回路の一部のポートを直接測定することなく全Sパラメータを測定する新しい手法を提案している.本方法は,それらのポートに既知負荷の組を接続し,その値を変えつつ,残りのポート間のSパラメータを直接測定することを複数回繰り返し,得られた測定データより回路全体のS行列を推定するものである.本報告では直接測定ポート数より間接測定ポート数が多い場合について、間接測定ポートの一部を既知負荷で終端して一時的に測定対象から除外し,過去に提案した少数のポートを間接測定する場合の手法に帰着して部分的な間接測定Sパラメータ値を得て,それを仮想的な直接測定値とみなす,ということをポートの除外が不要になるまで再帰的に行なうことで全体のS行列を推定している.小型回路基板を対象とした数値例により手法の妥当性と推定の安定性を評価している. |
抄録(英) | A measurement method for the S-parameters of a multiport reciprocal circuit is reported where the majority of the ports (indirect-measured ports) are connected with some known loads and the remaining ports are directly measured by changing the load values. First, some of the indirect-measured ports are terminated with loads to temporarily exclude them from the measurements so that the number of indirect-measured ports equals to that of direct-measured ports. Then, our previously proposed method for a circuit in which the majority of ports are directly measured is applied to estimate the partial S-matrix. It is treated as if directly measured and the process is recursively repeated until no ports need to be excluded. A numerical experiment with a simple PCB is shown to evaluate the validity and the robustness of this method. |
キーワード(和) | Sパラメータ / 間接測定 / 多ポート回路 / 自動車部品 |
キーワード(英) | S parameter / indirect measurement / multiport circuit / automotive components |
資料番号 | MW2019-119 |
発行日 | 2019-12-12 (MW) |
研究会情報 | |
研究会 | MW |
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開催期間 | 2019/12/19(から1日開催) |
開催地(和) | 岐阜大学サテライトキャンパス |
開催地(英) | Gifu Unif. Satellite Campus |
テーマ(和) | 計測技術/一般 |
テーマ(英) | Measurement / Microwave Technologies |
委員長氏名(和) | 古神 義則(宇都宮大) |
委員長氏名(英) | Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.) |
副委員長氏名(和) | 河合 正(兵庫県立大) / 大久保 賢祐(岡山県立大) / 新庄 真太郎(三菱電機) |
副委員長氏名(英) | Tadashi Kawai(Univ. of Hyogo) / Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Shintaro Shinjo(Mitsubishi Electric) |
幹事氏名(和) | 清水 隆志(宇都宮大) / 佐藤 優(富士通研) |
幹事氏名(英) | Takashi Shimizu(Utsunomiya Univ.) / Masaru Sato(Fujitsu Labs.) |
幹事補佐氏名(和) | 吉田 賢史(鹿児島大) / 高野 恭弥(東京理科大) |
幹事補佐氏名(英) | Satoshi Yoshida(Kagoshima Univ.) / Kyoya Takano(Tokyo Univ. of Science) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Microwaves |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 再帰的手順に基づくSパラメータの間接測定法 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Recursive Method for S-parameter Indirect Measurement |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | Sパラメータ / S parameter |
キーワード(2)(和/英) | 間接測定 / indirect measurement |
キーワード(3)(和/英) | 多ポート回路 / multiport circuit |
キーワード(4)(和/英) | 自動車部品 / automotive components |
第 1 著者 氏名(和/英) | 前田 登 / Noboru Maeda |
第 1 著者 所属(和/英) | 株式会社 SOKEN(略称:SOKEN) SOKEN, INC.(略称:SOKEN) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 福井 伸治 / Shinji Fukui |
第 2 著者 所属(和/英) | 株式会社 SOKEN(略称:SOKEN) SOKEN, INC.(略称:SOKEN) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 関根 敏和 / Toshikazu Sekine |
第 3 著者 所属(和/英) | 岐阜大学(略称:岐阜大) Gifu University(略称:Gifu Univ.) |
第 4 著者 氏名(和/英) | 高橋 康宏 / Yasuhiro Takahashi |
第 4 著者 所属(和/英) | 岐阜大学(略称:岐阜大) Gifu University(略称:Gifu Univ.) |
発表年月日 | 2019-12-19 |
資料番号 | MW2019-119 |
巻番号(vol) | vol.119 |
号番号(no) | MW-346 |
ページ範囲 | pp.5-10(MW), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2019-12-12 (MW) |