| 講演名 | 2019-12-20 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 三宅 庸資(九工大), 加藤 隆明(九工大), 梶原 誠司(九工大), 麻生 正雄(シスウェーブ), 二見 治司(シスウェーブ), 松永 恵士(シスウェーブ), 三浦 幸也(首都大東京), |
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| 抄録(和) | 最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで定期的に遅延測定を行うことが有効である．著者らは，論理回路の組込み自己テストに可変なテストクロックを用いるオンチップ遅延測定手法を提案し，実証実験を進めている．本研究では，提案した遅延測定回路の機能確認とその機能を利用したチップの劣化現象の観測を目的として，遅延測定回路のチップ試作とバーイン装置を使った長期的信頼性試験による遅延測定を行った．本稿は，実際に試作チップを高温で高電圧のストレス環境におくことで劣化現象である回路の遅延増加を確認できることを示し，提案したオンチップ遅延測定回路による劣化検知への有効性について議論する． |
| 抄録(英) | Avoidance of delay-related faults due to aging phenomena is an important issue of VLSI systems. Periodical delay measurement in-field is useful for not only fault detection but also fault prediction for such faults. An on-chip delay measurement method based on BIST (Built-In Self-Test) with variable test clock generation has been proposed. In this work experiments using a test chip of the delay measurement circuit was done for observing aging phenomenon in long-term reliability test. Aging is accelerated by exposing the chip to high stress condition such as high temperature and high voltage. The effectiveness of degradation detection using the on-chip delay measurement circuit is discussed by evaluation with long-term reliability test. |
| キーワード(和) | フィールドテスト / 論理BIST / 遅延測定 / 劣化検知 / 長期信頼性試験 |
| キーワード(英) | Field test / Logic BIST / Delay measurement / Degradation detection / Long-term reliability test |
| 資料番号 | DC2019-85 |
| 発行日 | 2019-12-13 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2019/12/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | 南紀くろしお商工会 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | (第4回） Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ） - （共催：日本信頼性学会） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Aging Observation using On-Chip Delay Measurement in Long-term Reliability Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(2)（和/英） | 論理BIST / Logic BIST |
| キーワード(3)（和/英） | 遅延測定 / Delay measurement |
| キーワード(4)（和/英） | 劣化検知 / Degradation detection |
| キーワード(5)（和/英） | 長期信頼性試験 / Long-term reliability test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 麻生 正雄 / Masao Aso |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社 シスウェーブ(略称：シスウェーブ) Syswave Corp.(略称：Syswave) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 二見 治司 / Haruji Futami |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社 シスウェーブ(略称：シスウェーブ) Syswave Corp.(略称：Syswave) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 松永 恵士 / Satoshi Matsunaga |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 株式会社 シスウェーブ(略称：シスウェーブ) Syswave Corp.(略称：Syswave) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 首都大学東京(略称：首都大東京) Tokyo Metropolitan University(略称：TMU) |
| 発表年月日 | 2019-12-20 |
| 資料番号 | DC2019-85 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | DC-351 |
| ページ範囲 | pp.37-42(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-12-13 (DC) |