| 講演名 | 2019-11-28 ソフトウェア信頼評価のための非定常マルコフ過程モデル 李 思橋(広島大), 土肥 正(広島大), 岡村 寛之(広島大), |
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| 抄録(和) | 本稿では，非定常ポアソン過程を一般化した非定常マルコフ過程に着目し, 一般化二項過程 (GBP) と一般化ポリア過程 (GPP) に基づいたソフトウェア信頼性モデルの比較を行う. GBP は推移率が状態と時間に依存したマルコフ死滅過程として, GPP は推移率が状態と時間に依存したマルコフ出生過程として, それぞれ特徴づけることが出来る. 実際のソフトウェア開発プロジェクトで観測されたフォールトデータに基づいた数値例を通じて, ここで提案されたソフトウェア信頼性モデルの適合性比較を行う. |
| 抄録(英) | In this paper, we focus on non-homogeneous Markov processes, which are generalizations of the well-known non-homogeneous Poisson processes, and compare two software reliability models (SRMs) classified into a generalized binomial process (GBP) and a generalized Polya process (GPP). GBP and GPP can be characterized respectively as a Markov death process and a Markov birth process, with state and time dependent transition rates. Through numerical examples with the fault count data observed in actual software development projects, we compare the two SRMs in terms of the goodness-of-fit performances. |
| キーワード(和) | ソフトウェア信頼性モデル / 非定常マルコフ過程 / コルモゴロフ前進方程式 / マルコフ性 / 適合性評価 |
| キーワード(英) | Software reliability models / non-homogeneousMarkov processes / Kolmogorov forward equations / Markov property / goodness-of-fit performance |
| 資料番号 | R2019-44 |
| 発行日 | 2019-11-21 (R) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2019/11/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Central Electric Club |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
| 委員長氏名（和） | 安里 彰(富士通) |
| 委員長氏名（英） | Akira Asato(Fujitsu) |
| 副委員長氏名（和） | 土肥 正(広島大) |
| 副委員長氏名（英） | Tadashi Dohi(Hiroshima Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 田村 信幸(法政大) / 井上 真二(関西大) |
| 幹事氏名（英） | Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 岡村 寛之(広島大) / 横川 慎二(電通大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) / Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | ソフトウェア信頼評価のための非定常マルコフ過程モデル |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Non-homogeneous Markov Process Modeling for Software Reliability Assessment |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼性モデル / Software reliability models |
| キーワード(2)（和/英） | 非定常マルコフ過程 / non-homogeneousMarkov processes |
| キーワード(3)（和/英） | コルモゴロフ前進方程式 / Kolmogorov forward equations |
| キーワード(4)（和/英） | マルコフ性 / Markov property |
| キーワード(5)（和/英） | 適合性評価 / goodness-of-fit performance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 李 思橋 / Siqiao Li |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島大学(略称：広島大) Hiroshima University(略称：Hiroshima U.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 土肥 正 / Tadashi Dohi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島大学(略称：広島大) Hiroshima University(略称：Hiroshima U.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 岡村 寛之 / Hiroyuki Okamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島大学(略称：広島大) Hiroshima University(略称：Hiroshima U.) |
| 発表年月日 | 2019-11-28 |
| 資料番号 | R2019-44 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | R-315 |
| ページ範囲 | pp.7-12(R), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-11-21 (R) |