| 講演名 | 2019-11-15 サイドチャネル波形の計測分解能が秘密鍵の取得性に与える影響の測定 内海 航平(東北大), 林 優一(奈良先端大), 水木 敬明(東北大), 曽根 秀昭(東北大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 暗号モジュールの動作時に発生する物理的な現象を利用して秘密鍵を解析するサイドチャネル攻撃が脅威となっている． 暗号処理時に発生する電圧に対する情報漏えい評価の際，様々な誤差によって評価に要する時間が増大する．測定した信号には計測分解能による量子化誤差が生じ、秘密鍵の取得性に影響を与える． これに対し本稿では，測定機器の計測分解能の操作で量子化誤差を変化させ，その影響を解析した． 具体的には，暗号モジュールで発生する電圧をオシロスコープの計測分解能を操作して測定し，得られた波形に相関電力解析を行った． 実験の結果，計測分解能の低下によって秘密鍵の取得が容易となる場合があることを示した． |
| 抄録(英) | A side-channel attack is known as a serious threat which can obtain a secret key by analyzing physical information leakage from cryptographic devices. When we analyze side-channel information to retrieve the key, measurement errors can affect the analysis. The authors analyze an effect of quantization errors on retrieving the key. We performed correlation power analysis(CPA), tuning the resolution of the measurement instrument. Through the experiments, The authors showed that it sometimes become easy to retrieve the key for the reduced resolution. |
| キーワード(和) | サイドチャネル解析 / 暗号モジュール / 量子化誤差 / 計測分解能 |
| キーワード(英) | Side-channel analysis / Cryptographic module / Quantization error / Resolution |
| 資料番号 | EMCJ2019-73 |
| 発行日 | 2019-11-08 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / IEE-SPC |
|---|---|
| 開催期間 | 2019/11/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 6階67号室 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 実装，EMC一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) / 船渡 寛人(宇都宮大学) |
| 委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) / 船渡 寛人(宇都宮大学) |
| 副委員長氏名（和） | 西方 敦博(東工大) / 藤井 幹介(富士電機) |
| 副委員長氏名（英） | Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) / 藤井 幹介(富士電機) |
| 幹事氏名（和） | 青柳 貴洋(東工大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 磯部 高範(筑波大学) / 伊東 淳一(長岡技術科学大学) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Takanori Unou(Denso) / 磯部 高範(筑波大学) / 伊東 淳一(長岡技術科学大学) |
| 幹事補佐氏名（和） | 佐々木 菜実(星和電機) / 志田 浩義(トーキンEMCエンジニアリング) / 室賀 翔(秋田大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Nami Sasaki(Seiwa Electric MFG) / Hiroyoshi Shida(Tokin EMC Engineering) / Sho Muroga(Akita Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Semiconductor Power Converter |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | サイドチャネル波形の計測分解能が秘密鍵の取得性に与える影響の測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on an Effect of Resolution of Side Channel Waveform on Acquisition of Secret Key |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル解析 / Side-channel analysis |
| キーワード(2)（和/英） | 暗号モジュール / Cryptographic module |
| キーワード(3)（和/英） | 量子化誤差 / Quantization error |
| キーワード(4)（和/英） | 計測分解能 / Resolution |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 内海 航平 / Kohei Utsumi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ) |
| 発表年月日 | 2019-11-15 |
| 資料番号 | EMCJ2019-73 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | EMCJ-293 |
| ページ範囲 | pp.13-16(EMCJ), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2019-11-08 (EMCJ) |