| 講演名 | 2019-11-13 Improvement of variational autoencoder based test escape detection through image conversion Romain Chicoix(Telecom SudParis), Michihiro Shintani(奈良先端大), Kouichi Kumaki(Renesas Electronics), Michiko Inoue(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | In testing of large scale integration (LSI) circuit, test escape detection using machine learning algorithms has been attracted attention. More particular, variational autoencoder (VAE) can detect faults that could not be detected by conventional test methods by learning features of fault-free LSIs as random variables. Meanwhile, computer vision is one of the most successful fields in machine learning applications. Inspired by the fact, in this paper, the LSI test data is converted into images, and they are used to improve the detection performance of the outlier detection using a VAE. Through experiments, the proposed approach achieves approximately 2? higher outlier detectability than conventional work. |
| 抄録(英) | In testing of large scale integration (LSI) circuit, test escape detection using machine learning algorithms has been attracted attention. More particular, variational autoencoder (VAE) can detect faults that could not be detected by conventional test methods by learning features of fault-free LSIs as random variables. Meanwhile, computer vision is one of the most successful fields in machine learning applications. Inspired by the fact, in this paper, the LSI test data is converted into images, and they are used to improve the detection performance of the outlier detection using a VAE. Through experiments, the proposed approach achieves approximately 2? higher outlier detectability than conventional work. |
| キーワード(和) | Outlier detection / Test escape detection / Autoencoder |
| キーワード(英) | Outlier detection / Test escape detection / Autoencoder |
| 資料番号 | VLD2019-31,DC2019-55 |
| 発行日 | 2019-11-06 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / ICD / IE / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2019/11/13(から3日開催) |
| 開催地（和） | 愛媛県男女共同参画センター |
| 開催地（英） | Ehime Prefecture Gender Equality Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2019 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 戸川 望(早大) / 福本 聡(首都大東京) / 入江 英嗣(東大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 永田 真(神戸大) / 木全 英明(NTT) / 田宮 豊(富士通研) / / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Nozomu Togawa(Waseda Univ.) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Hideaki Kimata(NTT) / Yutaka Tamiya(Fujitsu Lab.) / / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 高橋 寛(愛媛大) / 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 高橋 真史(東芝メモリ) / 児玉 和也(NII) / 高橋 桂太(名大) |
| 副委員長氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Masafumi Takahashi(Toshiba-memory) / Kazuya Kodama(NII) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 小平 行秀(会津大) / 桜井 祐市(日立) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 津邑 公暁(名工大) / 高前田 伸也(北大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 早瀬 和也(NTT) / 松尾 康孝(NHK) / 土谷 亮(滋賀県大) / 岩崎 裕江(NTT) / 佐々木 通(三菱電機) / / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Yuichi Sakurai(Hitachi) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Kazuya Hayase(NTT) / Yasutaka Matsuo(NHK) / Akira Tsuchiya(Univ. Shiga Prefecture) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Toru Sasaki(Mitsubishi Electric) / / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Labs.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | 池田 一樹(日立) / / 有間 英志(東大) / 小川 周吾(日立) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(フローディア) / 久保木 猛(九大) / 海野 恭平(KDDI総合研究所) / 福嶋 慶繁(名工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kazuki Ikeda(Hitachi) / / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) / Shugo Ogawa(Hitachi) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(Floadia) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) / Kyohei Unno(KDDI Research) / Norishige Fukushima(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improvement of variational autoencoder based test escape detection through image conversion |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Outlier detection / Outlier detection |
| キーワード(2)（和/英） | Test escape detection / Test escape detection |
| キーワード(3)（和/英） | Autoencoder / Autoencoder |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | Romain Chicoix / Romain Chicoix |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Telecom SudParis(略称：Telecom SudParis) Telecom SudParis(略称：Telecom SudParis) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | Michihiro Shintani / Michihiro Shintani |
| 第 2 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | Kouichi Kumaki / Kouichi Kumaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | Renesas Electronics(略称：Renesas Electronics) Renesas Electronics(略称：Renesas Electronics) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | Michiko Inoue / Michiko Inoue |
| 第 4 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2019-11-13 |
| 資料番号 | VLD2019-31,DC2019-55 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | VLD-282,DC-283 |
| ページ範囲 | pp.13-18(VLD), pp.13-18(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-11-06 (VLD, DC) |