| 講演名 | 2019-11-01 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み（I) 川村 信一(産総研), 今福 健太郎(産総研), 坂根 広史(産総研), 堀 洋平(産総研), 永田 真(産総研/神戸大), 林 優一(産総研/奈良先端大), 松本 勉(産総研/横浜国大), |
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| 抄録(和) | 半導体チップ上や回路基板などに本来あってはならないハードウェア回路が挿入される脅威が問題となりつつある. 本稿ではそのような不正回路をハードウェアトロージャンと呼ぶ. その影響の大きさから, 電子デバイスにおけるハードウェアトロージャン対策の開発が喫緊の課題となっている. 本稿では, 物理的に与えられたICチップからハードウェアトロージャンを検知する手法の開発が重要であることを確認するとともに, 最先端のICチップを物理的に解析しようとした場合に直面する課題について整理する. |
| 抄録(英) | It is of great concern that malicious hardware should be inserted inside semiconductor chips and on printed circuit boards. We call such malicious hardware as a hardware Trojan. Since a hardware Trojan has great impact on our society, we have pressing needs for the development of countermeasure against a hardware Trojan. In this paper, we address that it is important to develop a method to efficiently detect a hardware Trojan from a physical IC chip. In addition, we summarize problems we face when we start to analyze a physical IC chip. |
| キーワード(和) | ハードウェアトロージャン / 半導体チップ / 物理レベル / 検知 |
| キーワード(英) | Hardware Trojan / Semiconductor Chip / Physical level / Detection |
| 資料番号 | HWS2019-65,ICD2019-26 |
| 発行日 | 2019-10-25 (HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ICD |
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| 開催期間 | 2019/11/1(から1日開催) |
| 開催地（和） | DNPなんばSSビル |
| 開催地（英） | DNP Namba SS Bld. |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 川村 信一(東芝) / 永田 真(神戸大) |
| 委員長氏名（英） | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 池田 誠(東大) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 高橋 真史(東芝メモリ) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Masafumi Takahashi(Toshiba-memory) |
| 幹事氏名（和） | 国井 裕樹(セコム) / 小野 貴継(九大) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) |
| 幹事氏名（英） | Hiroki Kunii(SECOM) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(フローディア) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(Floadia) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み（I) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Physical-level detection approach against hardware Trojans inside semiconductor chips (I) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハードウェアトロージャン / Hardware Trojan |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体チップ / Semiconductor Chip |
| キーワード(3)（和/英） | 物理レベル / Physical level |
| キーワード(4)（和/英） | 検知 / Detection |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 川村 信一 / Shinichi Kawamura |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 今福 健太郎 / Kentaro Imafuku |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 坂根 広史 / Hirofumi Sakane |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 堀 洋平 / Yohei Hori |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto Nagata |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所/神戸大学(略称：産総研/神戸大) Natonal Institute of Advanced Industrial Science and Technology/Kobe University(略称：AIST/Kobe Univ.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所/奈良先端科学技術大学院大学(略称：産総研/奈良先端大) Natinal Institute of Advanced Industrial Science and Technology/Nara Institute of Science and Technology(略称：AIST/NAIST) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所/横浜国立大学(略称：産総研/横浜国大) National Institute of Advance Industrial Science and Technology/Yokohama National University(略称：AIST/YNU) |
| 発表年月日 | 2019-11-01 |
| 資料番号 | HWS2019-65,ICD2019-26 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | HWS-260,ICD-261 |
| ページ範囲 | pp.47-52(HWS), pp.47-52(ICD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-10-25 (HWS, ICD) |