講演名 2019-11-01
非正規挿入デバイス検知のための電気容量監視装置とその実験的評価
西澤 誠人(早大), 長谷川 健人(早大), 戸川 望(早大),
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抄録(和) 近年,電子機器は日常生活に深く浸透し,人々が生活するうえで欠かせないものとなった.しかし,攻撃者は非正規デバイスの挿入によって電子機器への攻撃手段を確立できる.そのため,挿入された非正規デバイスを攻撃前に検知することが期待される.本稿では,電気容量監視による非正規デバイス検知手法及び装置を提案し,その性能を評価する.提案装置では,オフセットがかかった交流信号を検知対象のデバイスに与えることで電気容量の監視を可能とする.実験では,電気容量監視装置の電気容量測定精度及び動作中の電気容量を監視する様子を確認し評価した.
抄録(英)
キーワード(和) ハードウェアセキュリティ / 電子機器 / 電気容量測定 / 非正規挿入デバイス検知
キーワード(英)
資料番号 HWS2019-66,ICD2019-27
発行日 2019-10-25 (HWS, ICD)

研究会情報
研究会 HWS / ICD
開催期間 2019/11/1(から1日開催)
開催地(和) DNPなんばSSビル
開催地(英) DNP Namba SS Bld.
テーマ(和) ハードウェアセキュリティ,一般
テーマ(英) Hardware Security, etc.
委員長氏名(和) 川村 信一(東芝) / 永田 真(神戸大)
委員長氏名(英) Shinichi Kawamura(Toshiba) / Makoto Nagata(Kobe Univ.)
副委員長氏名(和) 池田 誠(東大) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 高橋 真史(東芝メモリ)
副委員長氏名(英) Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Masafumi Takahashi(Toshiba-memory)
幹事氏名(和) 国井 裕樹(セコム) / 小野 貴継(九大) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト)
幹事氏名(英) Hiroki Kunii(SECOM) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext)
幹事補佐氏名(和) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(フローディア) / 久保木 猛(九大)
幹事補佐氏名(英) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(Floadia) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices
本文の言語 JPN-ONLY
タイトル(和) 非正規挿入デバイス検知のための電気容量監視装置とその実験的評価
サブタイトル(和)
タイトル(英)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ハードウェアセキュリティ
キーワード(2)(和/英) 電子機器
キーワード(3)(和/英) 電気容量測定
キーワード(4)(和/英) 非正規挿入デバイス検知
第 1 著者 氏名(和/英) 西澤 誠人 / Makoto Nishizawa
第 1 著者 所属(和/英) 早稲田大学(略称:早大)
Waseda University(略称:Waseda Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 長谷川 健人 / Kento Hasegawa
第 2 著者 所属(和/英) 早稲田大学(略称:早大)
Waseda University(略称:Waseda Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 戸川 望 / Nozomu Togawa
第 3 著者 所属(和/英) 早稲田大学(略称:早大)
Waseda University(略称:Waseda Univ.)
発表年月日 2019-11-01
資料番号 HWS2019-66,ICD2019-27
巻番号(vol) vol.119
号番号(no) HWS-260,ICD-261
ページ範囲 pp.53-58(HWS), pp.53-58(ICD),
ページ数 6
発行日 2019-10-25 (HWS, ICD)