| 講演名 | 2019-11-14 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 中岡 典弘(愛媛大), 青野 智己(愛媛大), 工藤 壮司(愛媛大), 王 森レイ(愛媛大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大), 岩田 浩幸(ルネサス エレクトロニクス), 前田 洋一(ルネサス エレクトロニクス), 松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス), |
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| 抄録(和) | 先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST) 機構を用いて , デバイスの故障の有無を診断するパワーオンセルフテスト (POST) が必要である . POST は厳しいテスト実行時間制約の下で定められた縮退故障検出率を得なければならない . マルチサイクルテストは LBIST を用いたPOST の実行時間の短縮化に有効な手法の 1 つである . しかしながら , マルチサイクルテストでは , キャプチャサイクルを増やすことに伴い , キャプチャパターンが新たな縮退故障を検出することが困難となる故障検出能力低下問題が観測された . 故障検出能力低下問題の原因について , これまでの研究では論理・故障シミュレーションを行うことでマルチサイクルテストにおいてサイクル数が増えると多くのフリップフロップ (FF) の値が固定値になることが分かったが , それと故障検出との関係は未だに明らかにされていない . 本稿では , COP という確率ベーステスタビリティ評価尺度と既存の故障検出確率評価法を利用して , マルチサイクルテストスキームにおけるキャプチャパターン系列の固定値になる確率と故障の検出確率を評価することにより , 故障検出能力低下問題のメカニズムを解析する . |
| 抄録(英) | In order to ensure the functional safety of advanced autonomous driving systems, a power-on self-test(POST) is required to diagnose the presence or absence of a device fault by using a logical built-in self-test (LBIST) mechanism at system startup. We must obtain a fault detection rate defined under strict test execution timeconstraints. Multi-cycle testing is one of the effective methods for shortening POST execution time using LBIST. However, in the multi-cycle test, there was a fault detection degradation problem that made it difficult for thecapture pattern to detect a new stuck-at fault as the number of capture cycles increased. Regarding the cause ofthe fault detection degradation problem, it has been found that many flip-flops (FF) values become fixed as thenumber of cycles increases in multi-cycle tests by performing logic / fault simulations. The relationship betweensuch a problem and fault detection has not yet been clarified. In this paper, we analyze the mechanism of thefault detection degradation problem by evaluating the transition probability and fault detection probability of thecapture pattern sequence in the multi-cycle test scheme using a probability-based testability evaluation scale calledCOP. |
| キーワード(和) | POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / 縮退故障 |
| キーワード(英) | POST / LBIST / Multi-cycle Testing / Function Safety / Stuck-at Fault |
| 資料番号 | VLD2019-45,DC2019-69 |
| 発行日 | 2019-11-06 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / ICD / IE / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2019/11/13(から3日開催) |
| 開催地（和） | 愛媛県男女共同参画センター |
| 開催地（英） | Ehime Prefecture Gender Equality Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2019 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 戸川 望(早大) / 福本 聡(首都大東京) / 入江 英嗣(東大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 永田 真(神戸大) / 木全 英明(NTT) / 田宮 豊(富士通研) / / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Nozomu Togawa(Waseda Univ.) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Hideaki Kimata(NTT) / Yutaka Tamiya(Fujitsu Lab.) / / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 高橋 寛(愛媛大) / 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 高橋 真史(東芝メモリ) / 児玉 和也(NII) / 高橋 桂太(名大) |
| 副委員長氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Masafumi Takahashi(Toshiba-memory) / Kazuya Kodama(NII) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 小平 行秀(会津大) / 桜井 祐市(日立) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 津邑 公暁(名工大) / 高前田 伸也(北大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 早瀬 和也(NTT) / 松尾 康孝(NHK) / 土谷 亮(滋賀県大) / 岩崎 裕江(NTT) / 佐々木 通(三菱電機) / / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Yuichi Sakurai(Hitachi) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Kazuya Hayase(NTT) / Yasutaka Matsuo(NHK) / Akira Tsuchiya(Univ. Shiga Prefecture) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Toru Sasaki(Mitsubishi Electric) / / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Labs.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | 池田 一樹(日立) / / 有間 英志(東大) / 小川 周吾(日立) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(フローディア) / 久保木 猛(九大) / 海野 恭平(KDDI総合研究所) / 福嶋 慶繁(名工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kazuki Ikeda(Hitachi) / / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) / Shugo Ogawa(Hitachi) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(Floadia) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) / Kyohei Unno(KDDI Research) / Norishige Fukushima(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | POST / POST |
| キーワード(2)（和/英） | LBIST / LBIST |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-cycle Testing |
| キーワード(4)（和/英） | 機能安全規格 / Function Safety |
| キーワード(5)（和/英） | 縮退故障 / Stuck-at Fault |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中岡 典弘 / Norihiro Nakaoka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 青野 智己 / Tomoki Aono |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 工藤 壮司 / Sohshi Kudoh |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Senling Wang |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata |
| 第 7 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 前田 洋一 / Yoichi Maeda |
| 第 8 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas) |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima |
| 第 9 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas) |
| 発表年月日 | 2019-11-14 |
| 資料番号 | VLD2019-45,DC2019-69 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | VLD-282,DC-283 |
| ページ範囲 | pp.145-150(VLD), pp.145-150(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-11-06 (VLD, DC) |