講演名 | 2019-10-10 第18回極低温検出器国際ワークショップ(LTD-18)報告 神代 暁(産総研), |
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抄録(和) | |
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資料番号 | SCE2019-29 |
発行日 | 2019-10-02 (SCE) |
研究会情報 | |
研究会 | SCE |
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開催期間 | 2019/10/9(から2日開催) |
開催地(和) | 東北大学・電気通信研究所 |
開催地(英) | |
テーマ(和) | 検出基盤技術及び応用、一般 |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | 神代 暁(産総研) |
委員長氏名(英) | Satoshi Kohjiro(AIST) |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | 竹内 尚輝(横浜国大) / 三木 茂人(NICT) |
幹事氏名(英) | Naoki Takeuchi(Yokohama National Univ.) / Shigehito Miki(NICT) |
幹事補佐氏名(和) | 赤池 宏之(大同大) |
幹事補佐氏名(英) | Hiroyuki Akaike(Daido Univ.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Superconductive Electronics |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 第18回極低温検出器国際ワークショップ(LTD-18)報告 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Report on 18th International Workshop on Low Temperature Detectors (LTD-18) |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 神代 暁 / Satoshi Kohjiro |
第 1 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所(略称:産総研) National Institute of Advanced Industrial Science & Technology(略称:AIST) |
発表年月日 | 2019-10-10 |
資料番号 | SCE2019-29 |
巻番号(vol) | vol.119 |
号番号(no) | SCE-219 |
ページ範囲 | pp.37-41(SCE), |
ページ数 | 5 |
発行日 | 2019-10-02 (SCE) |