| 講演名 | 2019-10-24 n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 池ヶ谷 祐輝(日大), 石山 悠太(日大), 細川 利典(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテストが用いられている．特に自動車に搭載されている VLSIに関しては，組込み自己テストと呼ばれる技術を用いて，エンジンを起動したと同時に短時間でテストを行う必要がある．組込み自己テストでは一般的に，高い故障検出率を得ることが可能なス キャン設計が用いられている．一方で，非スキャン設計と比較して，面積オーバヘッドが増大するという問題点が挙げられる．本論文では，状態信号をメモリから与えることで，レジスタ転送レベル回路におけるコントローラの全ての状態遷移を 少なくとも 1回以上被覆し，非スキャン設計での故障検出率を向上させる手法を提案する． |
| 抄録(英) | As one of the means to avoid the fault due to the deteriorate over time of VLSI, online test is used to monitor the output of the circuit and the value of the internal signal line in normal operation. Especially for VLSI mounted in automobiles, it is necessary to test in a short time at the same time as starting the engine using a technology called built in self test. The built in self test generally uses a scan design that can obtain a higher fault coverage. On the other hand, the area overhead increases compared to the non scan design. In this paper, we propose a method to improve the fault coverage in non scan design by covering all the state transitions of the controller in the register transfer level circuit more than once by giving the status signal from the memory. |
| キーワード(和) | オンラインテスト / 組込み自己テスト / 非スキャン設計 / レジスタ転送レベル / テスト容易化設計 / 線形帰還シフトレジスタ / 多重入力シフトレジスタ |
| キーワード(英) | online test / build-in self-test / non-scan design / register transfer level / design for testability / linear feedback shift register / multiple input shift register |
| 資料番号 | SS2019-19,DC2019-47 |
| 発行日 | 2019-10-17 (SS, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC / SS |
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| 開催期間 | 2019/10/24(から2日開催) |
| 開催地（和） | 熊本大学 |
| 開催地（英） | Kumamoto Univ. |
| テーマ（和） | ソフトウェアシステムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | Software Systems, etc. |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) / 中田 明夫(広島市大) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Akio Nakata(Hiroshima City Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) / 小林 隆志(東工大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Takashi Kobayashi(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 肥後 芳樹(阪大) / 島 和之(広島市大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yoshiki Higo(Osaka Univ.) / Kazuyuki Shima(Hiroshima City Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 林 晋平(東工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Shinpei Hayashi(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Software Science |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Non-scan Online Test Method Based on n-Time State Transition Coverage |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | オンラインテスト / online test |
| キーワード(2)（和/英） | 組込み自己テスト / build-in self-test |
| キーワード(3)（和/英） | 非スキャン設計 / non-scan design |
| キーワード(4)（和/英） | レジスタ転送レベル / register transfer level |
| キーワード(5)（和/英） | テスト容易化設計 / design for testability |
| キーワード(6)（和/英） | 線形帰還シフトレジスタ / linear feedback shift register |
| キーワード(7)（和/英） | 多重入力シフトレジスタ / multiple input shift register |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 池ヶ谷 祐輝 / Yuki Ikegaya |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石山 悠太 / Yuta Ishiyama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyo University(略称：Kyoto Sangyo Univ.) |
| 発表年月日 | 2019-10-24 |
| 資料番号 | SS2019-19,DC2019-47 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | SS-246,DC-247 |
| ページ範囲 | pp.37-42(SS), pp.37-42(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-10-17 (SS, DC) |