講演名 | 2019-10-22 ACアダプタの電源ノイズを用いての劣化度評価 石山 文彦(NTT), 鳥海 陽平(NTT), |
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抄録(和) | 電源装置は、内部コンデンサの劣化が進むと発熱量が多くなり火災を誘発する危険性などがある。その劣化度評価は、コンデンサの液漏れや膨らみの目視確認によることになるが、ACアダプタについては目視確認ができないため、外部から測定可能な情報によって劣化度評価ができることが望ましい。そこで我々は、ACアダプタが電源線に発する電磁ノイズに着目した。電磁ノイズによる劣化度評価が可能であれば、内部を目視できない電源装置の劣化度評価に道をひらくことができる。前回、様々な度合いに加速劣化させたコンデンサを用いたACアダプタを用意して測定し、独自手法を用いて解析したところ、電磁ノイズの振幅は通電時のコンデンサの内部抵抗に比例することが確認できた。そこで今回、別の加速劣化させたコンデンサを用いて追加測定を行い、再現性を確認し、前回結果に加え、常温時の内部抵抗が約20Ωを超えると電磁ノイズの振幅が一定になることを確認した。 |
抄録(英) | We are investigating countermeasure technique against electro-magnetic noise by investigating our own method. We applied our method to the analysis of electro-magnetic noise of aged AC adaptors, and report the results. |
キーワード(和) | 局所線形予測法 / 電源装置 / 劣化度評価 / 電磁ノイズ |
キーワード(英) | local linear predictive coding, / power supply / evaluation of aging / EM noise |
資料番号 | CAS2019-26,NLP2019-66 |
発行日 | 2019-10-15 (CAS, NLP) |
研究会情報 | |
研究会 | NLP / CAS |
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開催期間 | 2019/10/22(から2日開催) |
開催地(和) | 岐阜大学 |
開催地(英) | Gifu Univ. |
テーマ(和) | 数理モデリング,数値シミュレーション,一般 |
テーマ(英) | Mathematical modeling, numerical simulation etc. |
委員長氏名(和) | 黒川 弘章(東京工科大) / 山脇 大造(日立) |
委員長氏名(英) | Hiroaki Kurokawa(Tokyo Univ. of Tech.) / Taizo Yamawaki(Hitachi) |
副委員長氏名(和) | 夏目 季代久(九工大) / 高島 康裕(北九州市大) |
副委員長氏名(英) | Kiyohisa Natsume(Kyushu Inst. of Tech.) / Yasuhiro Takashima(Univ. of Kitakyushu) |
幹事氏名(和) | 木村 貴幸(日本工大) / 立野 勝巳(九工大) / 中村 洋平(日立) / 佐藤 隆英(山梨大) |
幹事氏名(英) | Takayuki Kimura(Nippon Inst. of Tech.) / Katsumi Tateno(Kyushu Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Takahide Sato(Yamanashi Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | 島田 裕(埼玉大) / 佐村 俊和(山口大) / 佐藤 弘樹(ソニーLSIデザイン) / 山口 基(ルネサスエレクトロニクス) |
幹事補佐氏名(英) | Yutaka Shimada(Saitama Univ.) / Toshikaza Samura(Yamaguchi Univ.) / Hiroki Sato(Sony LSI Design) / Motoi Yamaguchi(Renesas Electronics) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Nonlinear Problems / Technical Committee on Circuits and Systems |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | ACアダプタの電源ノイズを用いての劣化度評価 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Aging estimation of AC adapters with using EM noise |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 局所線形予測法 / local linear predictive coding, |
キーワード(2)(和/英) | 電源装置 / power supply |
キーワード(3)(和/英) | 劣化度評価 / evaluation of aging |
キーワード(4)(和/英) | 電磁ノイズ / EM noise |
第 1 著者 氏名(和/英) | 石山 文彦 / Fumihiko Ishiyama |
第 1 著者 所属(和/英) | NTT(略称:NTT) NTT(略称:NTT) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 鳥海 陽平 / Yohei Toriumi |
第 2 著者 所属(和/英) | NTT(略称:NTT) NTT(略称:NTT) |
発表年月日 | 2019-10-22 |
資料番号 | CAS2019-26,NLP2019-66 |
巻番号(vol) | vol.119 |
号番号(no) | CAS-237,NLP-238 |
ページ範囲 | pp.17-22(CAS), pp.17-22(NLP), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2019-10-15 (CAS, NLP) |