講演名 2019-08-09
広帯域で光吸収率をもつキャビティ構造の開発
今野 俊生(産総研), 鷹巣 幸子(産総研), 服部 香里(産総研), 福田 大治(産総研), 福田 大治(産総研),
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抄録(和) 超伝導転移端センサ(Superconducting Transition Edge Sensor: TES)は非常に高い温度感度,高エネルギー分解能,小さい暗計数率および低ノイズをもつカロリメータとして動作する。我々はTESをバイオイメージングに応用するべく,広帯域の光子を高効率で検出・分光して高速でスペクトルを得ることを目的としている。本研究では,可視光域から近赤外波長領域にわたって光吸収率の高いキャビティ構造の設計と作製を行っている。
抄録(英) Transition edge sensors (TESs) exhibiting large thermal sensitivities, small dark count rates, and high energy resolution of a single optical photon have been applied to thermometers. Now, we are aiming to achieve optical cavity structures surrounding TESs to detect photons in the range of from optical wavelength to near-infrared wavelength with high efficiency in photon-counting microscopy for biological imaging.
キーワード(和) TES / 超伝導体 / 薄膜 / 光キャビティ
キーワード(英) TES / superconductor / thin film / optical cavity
資料番号 SCE2019-8
発行日 2019-08-02 (SCE)

研究会情報
研究会 SCE
開催期間 2019/8/9(から1日開催)
開催地(和) 産業技術総合研究所
開催地(英) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
テーマ(和) デバイス関係、薄膜、一般
テーマ(英) Device, think film, etc.
委員長氏名(和) 神代 暁(産総研)
委員長氏名(英) Satoshi Kohjiro(AIST)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和) 竹内 尚輝(横浜国大) / 三木 茂人(NICT)
幹事氏名(英) Naoki Takeuchi(Yokohama National Univ.) / Shigehito Miki(NICT)
幹事補佐氏名(和) 赤池 宏之(大同大)
幹事補佐氏名(英) Hiroyuki Akaike(Daido Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Superconductive Electronics
本文の言語 ENG-JTITLE
タイトル(和) 広帯域で光吸収率をもつキャビティ構造の開発
サブタイトル(和) アレイ超伝導転移端センサ(TES)
タイトル(英) Development of cavity structures with broadband optical absorption
サブタイトル(和) Superconducting transition edge sensors (TESs) array
キーワード(1)(和/英) TES / TES
キーワード(2)(和/英) 超伝導体 / superconductor
キーワード(3)(和/英) 薄膜 / thin film
キーワード(4)(和/英) 光キャビティ / optical cavity
第 1 著者 氏名(和/英) 今野 俊生 / Toshio Konno
第 1 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 2 著者 氏名(和/英) 鷹巣 幸子 / Sachiko Takasu
第 2 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 服部 香里 / Kaori Hattori
第 3 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 4 著者 氏名(和/英) 福田 大治 / Daiji Fukuda
第 4 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 5 著者 氏名(和/英) 福田 大治 / Daiji Daiji
第 5 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
発表年月日 2019-08-09
資料番号 SCE2019-8
巻番号(vol) vol.119
号番号(no) SCE-164
ページ範囲 pp.1-4(SCE),
ページ数 4
発行日 2019-08-02 (SCE)