講演名 2019-08-09
磁性体を利用したディジタルICチップノイズ対策手法の評価
地家 幸佑(神戸大), 渡邊 航(神戸大), 田中 聡(神戸大), 三浦 典之(神戸大), 永田 真(神戸大), 高橋 昭博(東北大), 宮澤 安範(東北大), 山口 正洋(東北大),
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抄録(和) ディジタル集積回路(IC)チップが発生させる放射ノイズ対策手法として、磁性体の利用が提案されている。磁性体の性質には周波数特性があり、構成材料を適切に選択にすることで任意の周波数帯でシールド効果・ノイズ吸収効果を発揮することが期待されている。本稿では薄膜状にした磁性体をICチップに実装した際のノイズ低減効果の有効性をICチップの内外で調査した。作成したICチップにはノイズ発生回路とオンチップ電圧波形取得回路が搭載されており、任意に調節した電源ノイズ波形をオンチップで観測できる。オフチップにおいては磁界プローブ法による近傍磁界測定を行い、一定エリアのピーク値をマッピングしノイズ伝播の様子を観測した。
抄録(英) Suppression of noise emitted from digital integrated circuit (IC) chip is expected by using magnetic materials. The frequency characteristics of noise shielding or even absorption of magnetic materials are to be properly tuned with the selection of their compositions. This reports investigate the effectiveness of noise suppression by measuring noises at on-chip and on-board locations. The prototype IC chips embed on-chip noise generator and noise monitoring circuitry and use the membrane of magnetic materials in assembly. On-chip voltage variation and on-board near magnetic fields are measured by on-chip voltage monitoring and magnetic probing techniques, in areas of IC chip and printed circuit board, respectively.
キーワード(和) 放射ノイズ対策 / 磁性体 / 磁性膜 / 電源ノイズ / オンチップモニタ / 近傍磁界測定
キーワード(英) Noise emission / magnetic material / magnetic membrane / power noise / on-chip noise monitoring / near magnetic field measurements
資料番号 SDM2019-49,ICD2019-14
発行日 2019-07-31 (SDM, ICD)

研究会情報
研究会 SDM / ICD / ITE-IST
開催期間 2019/8/7(から3日開催)
開催地(和) 北海道大学 情報科学院 3F A31
開催地(英) Hokkaido Univ., Graduate School /Faculty of Information Science and
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications
委員長氏名(和) 品田 高宏(東北大) / 永田 真(神戸大) / 秋田 純一(金沢大))
委員長氏名(英) Takahiro Shinada(Tohoku Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / 秋田 純一(金沢大))
副委員長氏名(和) 平野 博茂(パナソニック・タワージャズ) / 高橋 真史(東芝メモリ) / 廣瀬 裕(パナソニック)
副委員長氏名(英) Hiroshige Hirano(TowerJazz Panasonic) / Masafumi Takahashi(Toshiba-memory) / 廣瀬 裕(パナソニック)
幹事氏名(和) 池田 浩也(静岡大) / 諸岡 哲(東芝メモリー) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 池辺 将之(北大)
幹事氏名(英) Hiroya Ikeda(Shizuoka Univ.) / Tetsu Morooka(TOSHIBA MEMORY) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / 池辺 将之(北大)
幹事補佐氏名(和) 森 貴洋(産総研) / 小林 伸彰(日大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(フローディア) / 久保木 猛(九大)
幹事補佐氏名(英) Takahiro Mori(AIST) / Nobuaki Kobayashi(Nihon Univ.) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(Floadia) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Group on Information Sensing Technologies
本文の言語 JPN
タイトル(和) 磁性体を利用したディジタルICチップノイズ対策手法の評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Evaluation of IC-Chip Noise Reduction using Magnetic Materials
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 放射ノイズ対策 / Noise emission
キーワード(2)(和/英) 磁性体 / magnetic material
キーワード(3)(和/英) 磁性膜 / magnetic membrane
キーワード(4)(和/英) 電源ノイズ / power noise
キーワード(5)(和/英) オンチップモニタ / on-chip noise monitoring
キーワード(6)(和/英) 近傍磁界測定 / near magnetic field measurements
第 1 著者 氏名(和/英) 地家 幸佑 / Kosuke Jike
第 1 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ)
第 2 著者 氏名(和/英) 渡邊 航 / Koh Watanabe
第 2 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ)
第 3 著者 氏名(和/英) 田中 聡 / Satoshi Tanaka
第 3 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ)
第 4 著者 氏名(和/英) 三浦 典之 / Noriyuki Miura
第 4 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ)
第 5 著者 氏名(和/英) 永田 真 / Makoto Nagata
第 5 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ)
第 6 著者 氏名(和/英) 高橋 昭博 / Akihiro Takahashi
第 6 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ)
第 7 著者 氏名(和/英) 宮澤 安範 / Yasunori Miyazawa
第 7 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ)
第 8 著者 氏名(和/英) 山口 正洋 / Masahiro Yamaguchi
第 8 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ)
発表年月日 2019-08-09
資料番号 SDM2019-49,ICD2019-14
巻番号(vol) vol.119
号番号(no) SDM-161,ICD-162
ページ範囲 pp.79-83(SDM), pp.79-83(ICD),
ページ数 5
発行日 2019-07-31 (SDM, ICD)