| 講演名 | 2019-07-24 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討 鍛治 秀伍(奈良先端大), 衣川 昌宏(仙台高専), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | 正規に実装された機器の回路が、特定の周波数の電磁波を照射することによりハードウェアトロジャンと同等の動作をし、機器内部に実装されたICの入出力信号が電磁波を介して漏えいする脅威が報告されている。従来、このような情報漏えいを引き起す電磁波の周波数は網羅的な周波数探索によって特定されていた。これに対し、本稿では、機器の物理的な構造に着目し、このような情報漏えいを引き起す電磁波の周波数を推定する手法を提案する。提案手法の有効性を示す実験では、攻撃対象機器に接続された線路や周辺機器の総外形長の計測によって機器内部への誘導効率の良い電磁波の周波数推定を行い、推定した周波数の電磁波を攻撃対象機器に照射した。実験を行った結果、推定した周波数だけでなく、当該周波数を整数倍した電磁波の照射によってICの入出力信号の電磁的情報漏えいが誘発されることを確認した。 |
| 抄録(英) | The threats of electromagnetic (EM) information leakage from the input/output (I/O) signal of an IC mounted on a de-vice have been reported. The above attack is caused when attackers irradiate an EM wave of the specific frequency against properly implemented I/O circuits. Then, properly circuits behave like hardware Trojan. To be feasible the above-mentioned attack, conventional studies have searched for the broad frequency range to find frequencies availa-ble for the attack. However, this search required a lot of time. In this paper, we propose a method to estimate frequencies available for the attack by focusing on the physical structure of the device without searching for the broad frequency range. In an experiment, we measured the length of the connected line and the length of around the peripheral devices of a target device. Based on the above measurement, we extracted resonance frequencies corresponding to the total length of the target device as frequencies available for the attack. Moreover, we confirmed that EM information leakage of the I/O signal of the IC by irradiating not only the estimated frequency but also its harmonics. |
| キーワード(和) | 電磁的情報漏えい / ハードウェアトロジャン / 意図的電磁妨害 |
| キーワード(英) | Electromagnetic Information Leakage / Hardware Trojan / Intentional Electromagnetic Interference |
| 資料番号 | ISEC2019-40,SITE2019-34,BioX2019-32,HWS2019-35,ICSS2019-38,EMM2019-43 |
| 発行日 | 2019-07-16 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC / SITE / ICSS / EMM / HWS / BioX / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
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| 開催期間 | 2019/7/23(から2日開催) |
| 開催地（和） | 高知工科大学 |
| 開催地（英） | Kochi University of Technology |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 |
| テーマ（英） | Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 盛合 志帆(NICT) / 森住 哲也(神奈川大) / 高倉 弘喜(NII) / 川村 正樹(山口大) / 川村 信一(東芝) / 大塚 玲(情報セキュリティ大) |
| 委員長氏名（英） | Shiho Moriai(NICT) / Tetsuya Morizumi(Kanagawa Univ.) / Hiroki Takakura(NII) / Masaki Kawamura(Yamaguchi Univ.) / Shinichi Kawamura(Toshiba) / Akira Otsuka(IISEC) |
| 副委員長氏名（和） | 廣瀬 勝一(福井大) / 伊豆 哲也(富士通研) / 小川 賢(神戸学院大) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 吉岡 克成(横浜国大) / 神谷 和憲(NTT) / 岩田 基(阪府大) / 小嶋 徹也(東京高専) / 池田 誠(東大) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 大木 哲史(静岡大) / 青木 隆浩(富士通研) |
| 副委員長氏名（英） | Shoichi Hirose(Univ. of Fukui) / Tetsuya Izu(Fujitsu Labs.) / Masaru Ogawa(Kobe Gakuin Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Kazunori Kamiya(NTT) / Motoi Iwata(Osaka Prefecture Univ.) / Tetsuya Kojima(NIT,Tokyo College) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Tetsushi Ohki(Shizuoka Univ.) / Takahiro Aoki(Fujitsu Labs.) |
| 幹事氏名（和） | 江村 恵太(NICT) / 面 和成(筑波大) / 壁谷 彰慶(東洋英和女学院大) / 加藤 尚徳(KDDI総合研究所) / 笠間 貴弘(NICT) / 山田 明(KDDI labs.) / 秋山 寛子(長野高専) / 金田 北洋(長瀬産業) / 国井 裕樹(セコム) / 小野 貴継(九大) / 市野 将嗣(電通大) / 高田 直幸(セコム) |
| 幹事氏名（英） | Keita Emura(NICT) / Kazunari Omote(Tsukuba Univ.) / Akiyoshi Kabeya(Toyo Eiwa Univ.) / Hisanori Kato(KDDI Research) / Takahiro Kasama(NICT) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Hiroko Akiyama(NIT, Nagano College) / キタヒロ カネダ(Nagase) / Hiroki Kunii(SECOM) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Naoyuki Takada(SECOM) |
| 幹事補佐氏名（和） | 山本 大(富士通研) / 須賀 祐治(インターネットイニシアティブ) / 吉永 敦征(山口県立大) / 鈴木 大助(北陸大) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 山内 利宏(岡山大) / 稲村 勝樹(東京電機大) / 河野 和宏(関西大) / / 渡部 大志(埼玉工大) / 堀江 亮太(芝浦工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Dai Yamamoto(Fujitsu Labs.) / Yuuji Suga(IIJ) / Nobuyuki Yoshinaga(Yamaguchi Pref Univ.) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Toshihiro Yamauchi(Okayama Univ.) / Masaki Inamura(Tokyo Denki Univ.) / Kazuhiro Kono(Kansai Univ.) / / Daishi Watabe(Saitama Inst. of Tech.) / Ryota Horie(Shibaura Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Enriched MultiMedia / Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Biometrics / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on an Estimation Method of Irradiate Frequencies to Forcibly Cause Electromagnetic Information Leakage |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁的情報漏えい / Electromagnetic Information Leakage |
| キーワード(2)（和/英） | ハードウェアトロジャン / Hardware Trojan |
| キーワード(3)（和/英） | 意図的電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 仙台高等専門学校(略称：仙台高専) National Institute of Technology, Sendai College(略称：NIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2019-07-24 |
| 資料番号 | ISEC2019-40,SITE2019-34,BioX2019-32,HWS2019-35,ICSS2019-38,EMM2019-43 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | ISEC-140,SITE-141,BioX-142,HWS-143,ICSS-144,EMM-145 |
| ページ範囲 | pp.235-238(ISEC), pp.235-238(SITE), pp.235-238(BioX), pp.235-238(HWS), pp.235-238(ICSS), pp.235-238(EMM), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2019-07-16 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |