| 講演名 | 2019-05-24 薄い平板試料の複素誘電率測定における空洞共振器法の溝の影響 平山 浩一(北見工大), 柳本 吉之(関東電子応用開発), 杉坂 純一郎(北見工大), 安井 崇(北見工大), |
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| 抄録(和) | 薄い平板試料を空洞共振器に挟んで試料の複素誘電率を推定する空洞共振器法においては，測定モードのTE011モードをTM111モードと分離するために空洞共振器の端に小さな溝が作製されるが，誘電率推定では溝は考慮されていない．ここでは，TEモードの共振周波数のみによって，空洞共振器の寸法を簡易的に補正する方法を用いた場合に，厚さ0.1mm以下の薄い平板試料に対して，空洞共振器法による複素誘電率測定の精度を検討している． |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | 空洞共振器 / 複素誘電率推定 / 有限要素法 |
| キーワード(英) | split cylindrical cavity resonator / complex permittivity estimation / finite-element method |
| 資料番号 | EMT2019-1 |
| 発行日 | 2019-05-17 (EMT) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMT / IEE-EMT |
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| 開催期間 | 2019/5/24(から1日開催) |
| 開催地（和） | 都立産業技術高専（品川CP) |
| 開催地（英） | Tokyo Metro. Col. of Ind. Tech. (Shinagawa CP) |
| テーマ（和） | 電磁界理論一般 |
| テーマ（英） | Electromagnetic Theory, etc. |
| 委員長氏名（和） | 廣瀬 明(東大) / 後藤 啓次(防衛大) |
| 委員長氏名（英） | Akira Hirose(Univ. of Tokyo) / Keiji Goto(National Defense Academy) |
| 副委員長氏名（和） | 平山 浩一(北見工大) |
| 副委員長氏名（英） | Koichi Hirayama(Kitami Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 黒木 啓之(都立産技高専) / 渡辺 仰基(福岡工大) / 阪本 卓也(兵庫県立大) / 黒木 啓之(都立産技高専) |
| 幹事氏名（英） | Takashi Kuroki(Tokyo Metro. Coll. of Tech) / Koki Watanabe(Fukuoka Inst.of Tech.) / Takuya Sakamoto(Univ. of Hyogo) / Takashi Kuroki(Tokyo Metro. Coll. of Tech) |
| 幹事補佐氏名（和） | 杉坂 純一郎(北見工大) / 松岡 剛志(九州産大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Junichiro Sugisaka(Kitami Inst. of Tech.) / Tsuyoshi Matsuoka(Kyushu Sangyo Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Theory / Technical Meeting on Electromagnetic Theory |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 薄い平板試料の複素誘電率測定における空洞共振器法の溝の影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effect of grrove in cavity resonator on estimation of complex permittivity of thin plate |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 空洞共振器 / split cylindrical cavity resonator |
| キーワード(2)（和/英） | 複素誘電率推定 / complex permittivity estimation |
| キーワード(3)（和/英） | 有限要素法 / finite-element method |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 平山 浩一 / Koichi Hirayama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北見工業大学(略称：北見工大) Kitami Institute of Technology(略称：Kitami Inst. Tech.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 柳本 吉之 / Yoshiyuki Yanagimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 関東電子応用開発(略称：関東電子応用開発) Kanto Electronic Application and Development Inc.(略称：KEAD) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 杉坂 純一郎 / Jun-ichiro Sugisaka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 北見工業大学(略称：北見工大) Kitami Institute of Technology(略称：Kitami Inst. Tech.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 安井 崇 / Takashi Yasui |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 北見工業大学(略称：北見工大) Kitami Institute of Technology(略称：Kitami Inst. Tech.) |
| 発表年月日 | 2019-05-24 |
| 資料番号 | EMT2019-1 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | EMT-55 |
| ページ範囲 | pp.1-4(EMT), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2019-05-17 (EMT) |