| 講演名 | 2019-03-02 ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標 櫻澤 聡(横浜国大), 藤本 大介(横浜国大), 松本 勉(横浜国大), |
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| 抄録(和) | 我々はToF距離画像カメラを対象として，測定パルスなりすましに関して計測セキュリティを評価するシステムを構築する研究を進めている．本稿では，計測セキュリティ評価システムの攻撃能力評価として，Common Criteriaにて定められた脆弱性評価手法と同様の評価を導入することで，計測セキュリティを定量的に評価する指標について検討する． |
| 抄録(英) | We are constructing a system for evaluating instrumentation security of ToF Depth-Image Cameras based on pulse-light spoofing. In this paper, we introduce the attack potential rating in vulnerability evaluation of Common Criteria to the system as an instrumentation security metric. |
| キーワード(和) | 計測セキュリティ / ToF / 距離画像カメラ / セキュリティ評価 |
| キーワード(英) | Instrumentation Security / Time of Flight / Depth-Image Camera / Security Evaluation |
| 資料番号 | VLD2018-141,HWS2018-104 |
| 発行日 | 2019-02-20 (VLD, HWS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / VLD |
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| 開催期間 | 2019/2/27(から4日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Ken Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 松本 勉(横浜国大) / 峯岸 孝行(三菱電機) |
| 委員長氏名（英） | Tsutomu Matsumoto(Yokohama National Univ.) / Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) |
| 副委員長氏名（和） | 川村 信一(東芝) / 池田 誠(東大) / 戸川 望(早大) |
| 副委員長氏名（英） | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 三浦 典之(神戸大) / 国井 裕樹(セコム) / 新田 高庸(NTT) / 小平 行秀(会津大) |
| 幹事氏名（英） | Noriyuki Miura(Kobe Univ.) / Hiroki Kunii(SECOM) / Koyo Nitta(NTT) / Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on VLSI Design Technologies |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Instrumentation Security Metric for ToF Depth-Image Cameras |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 計測セキュリティ / Instrumentation Security |
| キーワード(2)（和/英） | ToF / Time of Flight |
| キーワード(3)（和/英） | 距離画像カメラ / Depth-Image Camera |
| キーワード(4)（和/英） | セキュリティ評価 / Security Evaluation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 櫻澤 聡 / Satoru Sakurazawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学(略称：横浜国大) Yokohama National University(略称：YNU) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学(略称：横浜国大) Yokohama National University(略称：YNU) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学(略称：横浜国大) Yokohama National University(略称：YNU) |
| 発表年月日 | 2019-03-02 |
| 資料番号 | VLD2018-141,HWS2018-104 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | VLD-457,HWS-458 |
| ページ範囲 | pp.283-288(VLD), pp.283-288(HWS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (VLD, HWS) |