| 講演名 | 2019-02-27 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究 河野 雄大(九工大), 宮瀬 紘平(九工大), 呂 學坤(台湾科技大), 温 暁青(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
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| 抄録(和) | LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は，電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設計時に解決される．しかし，LSIテスト時におけるIR-drop増加は，通常動作時より非常に大きいにも関わらず必要以上に対応されることは少ない．テスト時の過度なIR-drop増加は，過度な信号遷移遅延を引き起こし，通常動作では正常な回路を故障と判断する誤テストを引き起こす．本研究では，過度なIR-dropを効果的かつ効率的に削減することために必要な，IR-dropの高いエリア（ホットスポット）の特定技術を提案する． |
| 抄録(英) | Performance degrading caused by high IR-drop in normal functional mode of LSI can be solved by improving power supply network in layout design phase. However, excessive IR-drop in test mode is not appropriately considered in layout design phase, although the amount of increased IR-drop in test mode is much higher than in normal functional mode. Excessive IR-drop in test mode causes test malfunction which judges fault free LSI in normal functional mode as faulty. In this work, we propose a method to locate high IR-drop areas (Hot Spot) which is necessary to effectively and efficiently reduce excessive IR-drop. |
| キーワード(和) | 実速度テスト / テスト時の消費電力 / IR-Drop / 誤テスト |
| キーワード(英) | at-speed testing / test power / IR-drop / over-testing |
| 資料番号 | DC2018-74 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2019/2/27(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大) |
| 幹事氏名（英） | Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LSIのホットスポット分布の解析に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of the hotspot distribution in the LSI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / at-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時の消費電力 / test power |
| キーワード(3)（和/英） | IR-Drop / IR-drop |
| キーワード(4)（和/英） | 誤テスト / over-testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 河野 雄大 / Yudai Kawano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 呂 學坤 / Shyue-Kung Lu |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 台湾科技大学(略称：台湾科技大) National Taiwan University of Science & Technology(略称：NTUST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 発表年月日 | 2019-02-27 |
| 資料番号 | DC2018-74 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | DC-456 |
| ページ範囲 | pp.19-24(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |