| 講演名 | 2019-02-27 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 青野 智己(愛媛大), Hanan T.Al-Awadhi(愛媛大), 王 森レイ(愛媛大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大), 岩田 浩幸(ルネサス エレクトロニクス), 前田 洋一(ルネサス エレクトロニクス), 松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス), |
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| 抄録(和) | 車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要となる．論理組込み自己テスト（LBIST）を用いたPOSTの実行時間の短縮化および故障検出率向上化のためには，マルチサイクルテストは一つの有効な方法である．しかしながら，マルチサイクルテストでは，キャプチャサイクルを増やすことによってキャプチャパターンのランダム性が減少し，故障検出に関する効果が低下することが問題となる．本稿では，まず，我々の従来研究で提案したマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出強化法「FFトグル制御ポイント挿入」[17]を説明する．次に，故障検出強化効果を高めるためのFFトグル制御ポイントの選択法を新たに提案する． |
| 抄録(英) | Multi-cycle Test is a promising way to reduce the test volume of Logic-BIST (Logic Built-in Self-Test) based POST (Power-on Self-Test) for achieving high fault coverage and shortening the TAT (Test Application Time). However, the randomness loss of the capture patterns due to the large number of capture cycles obstructs the further improvement of fault coverage. In this paper, we introduce a FF-CPI technique proposed in [19] to enhance the test quality of the capture patterns, and propose an improved selection method of FF candidates for FF-CPI. |
| キーワード(和) | POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / ISO26262 |
| キーワード(英) | POST / LBIST / Multi-cycle Test / Functional Safety / ISO26262 |
| 資料番号 | DC2018-79 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2019/2/27(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大) |
| 幹事氏名（英） | Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | FF Toggle Control Point Selection Methods for Fault Detection Enhancement under Multi-cycle Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | POST / POST |
| キーワード(2)（和/英） | LBIST / LBIST |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-cycle Test |
| キーワード(4)（和/英） | 機能安全規格 / Functional Safety |
| キーワード(5)（和/英） | ISO26262 / ISO26262 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 青野 智己 / Tomoki Aono |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | Hanan T.Al-Awadhi / Hanan T.Al-Awadhi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Senling Wang |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime Univercity(略称：Ehime Univ.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata |
| 第 6 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Company(略称：Renesas) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 前田 洋一 / Yoichi Maeda |
| 第 7 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Company(略称：Renesas) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima |
| 第 8 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Company(略称：Renesas) |
| 発表年月日 | 2019-02-27 |
| 資料番号 | DC2018-79 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | DC-456 |
| ページ範囲 | pp.49-54(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |