| 講演名 | 2019-02-27 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構 平本 悠翔郎(大分大), 大竹 哲史(大分大), 高橋 寛(愛媛大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | DC2018-76 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2019/2/27(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大) |
| 幹事氏名（英） | Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A built-in self-diagnosis mechanism based on self-generation of expected signatures |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 平本 悠翔郎 / Yushiro Hiramoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 発表年月日 | 2019-02-27 |
| 資料番号 | DC2018-76 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | DC-456 |
| ページ範囲 | pp.31-36(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |