| 講演名 | 2019-02-27 Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection Michihiro Shintani(奈良先端大), Kouichi Kumaki(Renesas Electronics Corporation), Michiko Inoue(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | DC2018-72 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2019/2/27(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大) |
| 幹事氏名（英） | Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | Michihiro Shintani / Michihiro Shintani |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | Kouichi Kumaki / Kouichi Kumaki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas Electronics Corporation) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas Electronics Corporation) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | Michiko Inoue / Michiko Inoue |
| 第 3 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2019-02-27 |
| 資料番号 | DC2018-72 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | DC-456 |
| ページ範囲 | pp.7-12(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |