講演名 2019-02-27
コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
吉村 正義(京都産大), 竹内 勇希(日大), 山崎 紘史(日大), 細川 利典(日大),
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抄録(和) 近年,VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し,遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である.しかし,回路構造に起因するテスト不能故障の影響により,遷移故障検出率は縮退故障検出率に比べて低い傾向にある.そのため遷移故障モデルのテストでは潜在的な故障を見逃す可能性がある.これを防ぐために,遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である.本論文では,コントローラに対する状態割当てによって,遷移故障の故障検出率が変化することを示す.状態割当てに対する遷移故障の故障検出率に関する評価指標であるQDTセットを提案する.実験結果において,評価指標が高い状態割当ては,遷移故障の故障検出率も高いことを示す.
抄録(英) Recently, it is indispensable to test in transition fault model due to timing defects increase along with complication and high speed of VLSI. However, the transition fault coverage tends to be lower than the stuck-at fault coverage due to untestable faults caused by the circuit structure. Therefore, there is a possibility of missing a potential failure for timing defects. Therefore, it is important to design-for-testability (DFT) to improve fault coverage in the transition fault model. In this paper, we show that transition fault coverages depend on state assignment to a controller in RTL netlist. We propose a QDT set which is an evaluation index on transition fault coverage for state assignment. Experimental results show that state assignment with high evaluation index has high transition fault coverages.
キーワード(和) 遷移故障 / 故障検出率 / 状態割当て / QDT
キーワード(英) transition fault / fault coverage / state assignment / QDT
資料番号 DC2018-78
発行日 2019-02-20 (DC)

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2019/2/27(から1日開催)
開催地(和) 機械振興会館
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg.
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc.
委員長氏名(和) 福本 聡(首都大東京)
委員長氏名(英) Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.)
副委員長氏名(和) 高橋 寛(愛媛大)
副委員長氏名(英) Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.)
幹事氏名(和) 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大)
幹事氏名(英) Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語 JPN
タイトル(和) コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
サブタイトル(和)
タイトル(英) State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Datapath
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 遷移故障 / transition fault
キーワード(2)(和/英) 故障検出率 / fault coverage
キーワード(3)(和/英) 状態割当て / state assignment
キーワード(4)(和/英) QDT / QDT
第 1 著者 氏名(和/英) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura
第 1 著者 所属(和/英) 京都産業大学(略称:京都産大)
Kyoto Sangyo University(略称:Kyoto Sangyo Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 竹内 勇希 / Yuki Takeuchi
第 2 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki
第 3 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa
第 4 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
発表年月日 2019-02-27
資料番号 DC2018-78
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) DC-456
ページ範囲 pp.43-48(DC),
ページ数 6
発行日 2019-02-20 (DC)