| 講演名 | 2019-02-27 キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 三澤 健一郎(日大), 細川 利典(日大), 山崎 紘史(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | 初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために，低消費電力を志向したドントケ判定法とドントケア割当て法が提案されている．従来提案されている低消費電力を志向したドントケア判定法は，各テストベクトルで検出する故障数をほぼ均一にするように考慮する．低消費電力を志向したドントケア割当ての品質は，ドントケア判定適用後に生成されるテストキューブに依存する．よって，ドントケア判定の段階でテスト集合に対してさらに低消費電力化を考慮する必要がある．本論文では，消費電力の制約の下で，ランダムに生成したキャプチャセーフテスト集合を用いて，アンセーフ故障のトランシティブファンイン領域の故障に対する故障伝搬経路を算出し，その経路を模倣したドントケア判定法を提案する． ISCAS’89ベンチマーク回路とITC’99ベンチマーク回路に対して本手法を適用した結果，キャプチャアンセーフベクトル数とアンセーフ故障数を削減できたことを示す． |
| 抄録(英) | Low power oriented don't care (X) identification and X filling methods have been proposed to reduce the numbers of capture-unsafe test vectors and unsafe faults in an initial test set. Conventional low power oriented X identification methods identified X's such that the number of detected faults for each test vector was almost same. The quality of low power oriented don't care X filling methods depends on the test cube set generated after the application of X-identification. Therefore, it is important to further consider low power consumption of an initial test set at X-identification stage. In this paper, we analyze fault propagation paths for faults in transitive fan-in regions of unsafe faults using randomly generated capture-safe test vectors and propose a low power oriented X identification method mimicking the fault propagation paths under the power consumption constraint. Experimental results for ISCAS'89 and ITC’99 benchmark circuits show that our proposed method reduced the numbers of capture-unsafe test vectors and unsafe fault compared with a conventional low power oriented X-identification method. |
| キーワード(和) | キャプチャセーフテストベクトル / ドントケア判定 / 故障伝搬経路 / 低消費電力テスト |
| キーワード(英) | capture-safe test vectors / don’t care identification / fault propagation paths / low power testing |
| 資料番号 | DC2018-73 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2019/2/27(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大) |
| 幹事氏名（英） | Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Low Capture Power Oriented X-Identification Method Mimicking Fault Propagation Paths of Capture Safe Test Vectors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | キャプチャセーフテストベクトル / capture-safe test vectors |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア判定 / don’t care identification |
| キーワード(3)（和/英） | 故障伝搬経路 / fault propagation paths |
| キーワード(4)（和/英） | 低消費電力テスト / low power testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三澤 健一郎 / Kenichiro Misawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyouto Sangyo University(略称：Kyouto Sangyo Univ) |
| 発表年月日 | 2019-02-27 |
| 資料番号 | DC2018-73 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | DC-456 |
| ページ範囲 | pp.13-18(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |