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講演名
2017-04-20 14:55
[依頼講演]16/14nmノード以降における高速かつ高信頼性を有する混載フラッシュメモリ向けFinFET Split-Gate MONOS
○
津田是文
・
川嶋祥之
・
園田賢一郎
・
吉冨敦司
・
三原竜善
・
鳴海俊一
・
井上真雄
・
村中誠志
・
丸山隆弘
・
山下朋弘
・
山口泰男
(
ルネサス エレクトロニクス
)・
久本 大
(
日立
)
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