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講演名
2008-07-17 10:30
プロセスばらつきや温度耐性を向上した45nm SoC向け混載SRAM
○
薮内 誠
・
新居浩二
・
塚本康正
・
大林茂樹
・
今岡 進
(
ルネサステクノロジ
)・
山上由展
・
石倉 聡
・
寺野登志夫
・
里見勝治
・
赤松寛範
(
松下電器
)・
篠原尋文
(
ルネサステクノロジ
)
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SDM2008-131 ICD2008-41
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