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講演名
2008-07-17 15:05
ロジックプロセス互換型SESOメモリセルによる低ソフトエラー(0.1FIT/Mb)、高速動作(100MHz)、長リテンション(100ms)の実現
○
亀代典史
・
渡部隆夫
・
石井智之
・
峰 利之
(
日立
)・
佐野聡明
(
ルネサス北日本セミコンダクタ
)・
伊部英史
・
秋山 悟
(
日立
)・
柳沢一正
・
一法師隆志
・
岩松俊明
・
高橋保彦
(
ルネサステクノロジ
)
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