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講演名
2007-04-13 09:40
[招待講演]A 65 nm Embedded SRAM with Wafer Level Burn-In Mode, Leak-Bit Redundancy and E-trim Fuse for Known Good Die
○
Shigeki Ohbayashi
・
Makoto Yabuuchi
・
Kazushi Kono
(
Renesas Technology
)・
Yuji Oda
(
Shikino High-Tech
)・
Susumu Imaoka
(
Renesas Design
)・
Keiichi Usui
(
Daioh Electric
)・
Toshiaki Yonezu
・
Takeshi Iwamoto
・
Koji Nii
・
Yasumasa Tsukamoto
・
Masashi Arakawa
・
Takahiro Uchida
・
Hiroshi Makino
・
Koichiro Ishibashi
・
Hirofumi Shinohara
(
Renesas Technology
)
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