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講演名
2019-11-14 16:10
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘
・
青野智己
・○
工藤壮司
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
岩田浩幸
・
前田洋一
・
松嶋 潤
(
ルネサス エレクトロニクス
)
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VLD2019-45 DC2019-69
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