情報・システム-画像工学(開催日:2015/06/16)

タイトル/著者/発表日/資料番号
BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法

錦織 誠(日大),  山崎 紘史(日大),  細川 利典(日大),  新井 雅之(日大),  吉村 正義(京都産大),  

[発表日]2015-06-16
[資料番号]DC2015-16
レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究

宮瀬 紘平(九工大),  ザウアー マティアス(フライブルク大),  ベッカー ベルンド(フライブルク大),  温 暁青(九工大),  梶原 誠司(九工大),  

[発表日]2015-06-16
[資料番号]DC2015-18
マルチコアシステムにおける信頼度向上手法のマルコフモデルによる性能評価

今井 雅(弘前大),  米田 友洋(NII),  

[発表日]2015-06-16
[資料番号]DC2015-20
クリティカルエリアに基づくブリッジ故障テスト生成の高速化に関する一検討

新井 雅之(日大),  犬山 慎吾(首都大東京),  岩崎 一彦(首都大東京),  

[発表日]2015-06-16
[資料番号]DC2015-17
ソフトウェアテスト用テストケース生成における2分決定図を用いた制約処理

土屋 達弘(阪大),  

[発表日]2015-06-16
[資料番号]DC2015-21
ラッチを用いた非同期式パイプライン回路の機能テストに関する一検討

豊嶋 太樹(弘前大),  寺山 恭平(弘前大),  黒川 敦(弘前大),  今井 雅(弘前大),  

[発表日]2015-06-16
[資料番号]DC2015-19