情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2023/02/28)

タイトル/著者/発表日/資料番号
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法

千田 祐弥(日大),  細川 利典(日大),  山崎 浩二(明大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-83
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法

徐 浩豊(日大),  細川 利典(日大),  吉村 正義(京都産大),  新井 雅之(日大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-88
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法

徐 雁レイ(日大),  三浦 怜(日大),  細川 利典(日大),  吉村 正義(京都産大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-89
信頼度計算プログラムに対するメタモルフィックテスティングの適用

浅地 泰斗(阪大),  土屋 達弘(阪大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-84
A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints

? 楽楽(阪大),  土屋 達弘(阪大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-85
近似乗算器における誤り補正と信頼度の関係に関する解析

髙妻 珠希(広島市大),  王 麒霖(広島市大),  市原 英行(広島市大),  井上 智生(広島市大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-86
入力電圧範囲を制御可能な確率的フラッシュADC

坂口 平(東京電機大),  小松 聡(東京電機大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-90
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法

魏 少奇(愛媛大),  塩谷 晃平(愛媛大),  王 森レイ(愛媛大),  甲斐 博(愛媛大),  樋上 喜信(愛媛大),  高橋 寛(愛媛大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-87
論理回路内のホットスポット特定手法とテストパターンごとに異なるホットスポットの評価に関する研究

宇都宮 大喜(九工大),  宮瀬 紘平(九工大),  ルー シュエクン(台湾科技大),  温 暁青(九工大),  梶原 誠司(九工大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-92
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討

杉岡 拓海(都立大),  永村 美一(都立大),  新井 雅之(日大),  福本 聡(都立大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-82
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability

馬 瑞君(安理工),  ホルスト シュテファン(九工大),  温 暁青(九工大),  徐 輝(安理工),  閻 愛斌(安大),  

[発表日]2023-02-28
[資料番号]DC2022-91