情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2021/02/05)

タイトル/著者/発表日/資料番号
相互依存システムにおける耐性強化問題の高速化

南出 大智(阪大),  土屋 達弘(阪大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-79
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design

馬 瑞君(九州工業大学),  シュテファン ホルスト(九州工業大学),  温 暁青(九州工業大学),  ? 愛斌(安徽大學),  徐 輝(安徽理工大學),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-71
レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法

池ヶ谷 祐輝(日大),  石山 悠太(日大),  細川 利典(日大),  吉村 正義(京都産大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-77
テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法

中村 健太(日大),  石山 悠太(日大),  細川 利典(日大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-76
メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究

高藤 大輝(九工大),  星野 龍(九工大),  宮瀬 紘平(九工大),  温 暁青(九工大),  梶原 誠司(九工大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-72
RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法

浅見 竜輝(日大),  細川 利典(日大),  山崎 紘史(日大),  吉村 正義(京都産大),  新井 雅之(日大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-74
CANバス上の単一ビットエラーによるオーバヘッドの考察

佐藤 諒平(都立大),  北林 友樹(都立大),  福本 聡(都立大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-78
ランダムばらつきを考慮した電力サイドチャネルの学習によるハードウェアトロイ回路の検出手法

井上 美智子(奈良先端大),  Riaz-Ul-Haque Mian(奈良先端大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-70
FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討

堤 信吾(都立大),  三浦 幸也(都立大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-69
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法

中岡 典弘(愛媛大),  王 森レイ(愛媛大),  樋上 喜信(愛媛大),  高橋 寛(愛媛大),  岩田 浩幸(ルネサス エレクトロニクス),  前田 洋一(ルネサス エレクトロニクス),  松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-75
CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討

村川 魁(都立大),  永村 美一(都立大),  新井 雅之(日大),  福本 聡(都立大),  

[発表日]2021-02-05
[資料番号]DC2020-73