情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2019/02/27)

タイトル/著者/発表日/資料番号
コントローラのテスト活性化用状態圧縮法

池ヶ谷 祐輝(日大),  石山 悠太(日大),  細川 利典(日大),  山崎 紘史(日大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-80
キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法

三澤 健一郎(日大),  細川 利典(日大),  山崎 紘史(日大),  吉村 正義(京都産大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-73
電源ノイズの影響を考慮したフリップフロップの耐性改善

木下 湧矢(首都大東京),  三浦 幸也(首都大東京),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-82
コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法

吉村 正義(京都産大),  竹内 勇希(日大),  山崎 紘史(日大),  細川 利典(日大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-78
An Efficient Approach to Recycled FPGA Detection Using WID Variation Modeling

Foisal Ahmed(奈良先端大),  Michihiro Shintani(奈良先端大),  Michiko Inoue(奈良先端大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-77
Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection

Michihiro Shintani(奈良先端大),  Kouichi Kumaki(Renesas Electronics Corporation),  Michiko Inoue(奈良先端大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-72
期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構

平本 悠翔郎(大分大),  大竹 哲史(大分大),  高橋 寛(愛媛大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-76
連続時間マルコフ連鎖による遅延耐性ネットワークの一評価手法

水原 涼太(首都大東京),  酒井 和也(首都大東京),  福本 聡(首都大東京),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-83
クリティカルエリアを考慮した2パターンテスト生成における故障選択に関する一考察

内山 直也(日大),  新井 雅之(日大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-71
耐過渡故障を指向した線形有限状態機械のストカスティック数による状態符号化

前田 有希(広島市大),  市原 英行(広島市大),  岩垣 剛(広島市大),  井上 智生(広島市大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-81
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法

青野 智己(愛媛大),  Hanan T.Al-Awadhi(愛媛大),  王 森レイ(愛媛大),  樋上 喜信(愛媛大),  高橋 寛(愛媛大),  岩田 浩幸(ルネサス エレクトロニクス),  前田 洋一(ルネサス エレクトロニクス),  松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-79
製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価

三野 智貴(奈良先端大),  新谷 道広(奈良先端大),  井上 美智子(奈良先端大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-75
はやぶさ2搭載光学航法機器の信頼性評価

檜原 弘樹(NECスペーステクノロジー/NEC),  佐野 淳平(NECスペーステクノロジー),  益田 哲也(NEC),  大嶽 久志(JAXA),  岡田 達明(JAXA),  尾川 順子(JAXA),  津田 雄一(JAXA),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-84
LSIのホットスポット分布の解析に関する研究

河野 雄大(九工大),  宮瀬 紘平(九工大),  呂 學坤(台湾科技大),  温 暁青(九工大),  梶原 誠司(九工大),  

[発表日]2019-02-27
[資料番号]DC2018-74