情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2018/02/20)

タイトル/著者/発表日/資料番号
コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法

竹内 勇希(日大),  武田 俊(日大),  細川 利典(日大),  山崎 紘史(日大),  吉村 正義(京都産大),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-78
LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討

佐藤 晃平(首都大東京),  三浦 幸也(首都大東京),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-86
電源ノイズによるフリップフロップ回路の動作への影響とその対策の提案

井上 美優紀(首都大東京),  三浦 幸也(首都大東京),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-88
焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成

小西 達也(阪大),  小島 英春(阪大),  中川 博之(阪大),  土屋 達弘(阪大),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-82
kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法

木下 湧矢(日大),  細川 利典(日大),  藤原 秀雄(阪学院大),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-81
A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation

Fakir Sharif Hossain(奈良先端大),  Tomokazu Yoneda(奈良先端大),  Michihiro Shintani(奈良先端大),  Michiko Inoue(奈良先端大),  Alex Orailoglu(カリフォルニア大, San Diego),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-84
アドホックネットワークにおけるステートレスな回避ルーティングに関する一考察

前田 智徳(首都大東京),  酒井 和哉(首都大東京),  福本 聡(首都大東京),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-83
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法

王 森レイ(愛媛大),  小川 達也(愛媛大),  樋上 喜信(愛媛大),  高橋 寛(愛媛大),  佐藤 正幸(TRL),  勝 満徳(TRL),  関口 象一(太陽誘電),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-87
2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察

新井 雅之(日大),  岩崎 一彦(首都大東京),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-77
デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法

井上 賢二(九工大),  三宅 庸資(九工大),  梶原 誠司(九工大),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-85
TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減

平井 智士(徳島大),  四柳 浩之(徳島大),  橋爪 正樹(徳島大),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-79
正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究

河野 雄大(九工大),  宮瀬 紘平(九工大),  梶原 誠司(九工大),  温 暁青(九工大),  

[発表日]2018-02-20
[資料番号]DC2017-80