情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日：2015/02/06)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]
目次

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]
Studies on FPGA Rejuvenation

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-78
閾値変更に基づくMLC PCMの高信頼化手法に関する一考察(高信頼化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

中野 伸哉,  新井 雅之,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-79
近似論理に基づく高信頼設計手法の評価に関する一考察(高信頼化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

齋藤 晴樹,  新井 雅之,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-80
信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法(セキュリティとテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

坊屋鋪 知拓,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-81
スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法(セキュリティとテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

吉村 正義,  西間木 淳,  細川 利典,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-82
International Test Conference 2014報告(特別講演,VLSI設計とテスト及び一般)

ITCアジア委員会,  若菜 伸一,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-83
階層テスト容易化高位合成におけるスケジューリングの一手法(階層テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

西間木 淳,  細川 利典,  藤原 秀雄,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-84
階層BIST向けLFSRシード生成法(階層テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

佐脇 光亮,  大竹 哲史,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-85
マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

高野 秀之,  山崎 紘史,  細川 利典,  山崎 浩二,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-86
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

王 森レイ,  井上 大画,  ハナン テイ・アル・アワディー,  樋上 喜信,  高橋 寛,  

[発表日]2015/2/6
[資料番号]DC2014-87
複写される方へ

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]
Reprographic Reproduction outside Japan

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]
奥付

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2015/2/6
[資料番号]