情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2014/02/03)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2014/2/3
[資料番号]
目次

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[発表日]2014/2/3
[資料番号]
モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

小松 巡,  岩田 大志,  山口 賢一,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-79
TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

櫻井 浩希,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-80
非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

水谷 早苗,  岩田 大志,  山口 賢一,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-81
DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法(低消費電力テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

小河 亮,  岩田 大志,  山口 賢一,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-82
SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法(低消費電力テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

高橋 慶安,  山崎 紘史,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-83
異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察(テスト品質,VLSI設計とテスト及び一般)

中山 裕太,  新井 雅之,  史 虹波,  岩崎 一彦,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-84
最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法(テスト品質,VLSI設計とテスト及び一般)

新谷 道広,  佐藤 高史,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-85
メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案(テスト品質,VLSI設計とテスト及び一般)

里中 沙矢香,  岩田 大志,  山口 賢一,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-86
BASTにおけるシフトデータ量削減法(テストデータ圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

田中 まりか,  山崎 紘史,  細川 利典,  吉村 正義,  新井 雅之,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-87
BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法(テストデータ圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

森 凌太,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-88
マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法(テストデータ圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

山崎 紘史,  川連 裕斗,  西間木 淳,  平井 淳士,  細川 利典,  吉村 正義,  山崎 浩二,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-89
Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装(ディペンダビリティとセキュリティ,VLSI設計とテスト及び一般)

森 拓馬,  大元 将一,  岩垣 剛,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-90
XMeshプロトコルを用いたワイヤレスセンサーネットワークに対するワームホール攻撃の検出(ディペンダビリティとセキュリティ,VLSI設計とテスト及び一般)

蓑原 隆,  吉井 碧,  

[発表日]2014/2/3
[資料番号]DC2013-91
複写される方へ

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[発表日]2014/2/3
[資料番号]
Notice for Photocopying

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[発表日]2014/2/3
[資料番号]
奥付

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[発表日]2014/2/3
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2014/2/3
[資料番号]