情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2013/02/06)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]
解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装(テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)

向井 俊矢,  上田 健司,  岩垣 剛,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-80
SATソルバを用いたテスト生成の高速化手法について(テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)

松永 裕介,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-81
クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察(欠陥検出能力評価, VLSI設計とテスト及び一般)

清水 貴弘,  中山 裕太,  新井 雅之,  岩崎 一彦,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-82
縮退故障テスト集合と遷移故障テスト集合を用いた欠陥検出能力向上のためのドントケア割当て法(欠陥検出能力評価, VLSI設計とテスト及び一般)

若杉 諒介,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-83
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)

大栗 裕人,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  堤 利幸,  山崎 浩二,  樋上 善信,  高橋 寛,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-84
隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)

中村 真規,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-85
AES暗号回路におけるトロイ回路設計の影響評価およびその一考察(セキュリティとテスト, VLSI設計とテスト及び一般)

荻田 英実,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-86
テスト応答圧縮器のセキュリティ評価の一手法(セキュリティとテスト, VLSI設計とテスト及び一般)

吉村 正義,  松永 裕介,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-87
エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)

松木 伸伍,  亀井 惇平,  岩垣 剛,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-88
モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)

三宅 庸資,  津森 渉,  佐藤 康夫,  梶原 誠司,  三浦 幸也,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-89
フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)

吉見 優太,  畠山 一実,  大和 勇太,  米田 友和,  井上 美智子,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]DC2012-90
複写される方へ

,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]
Notice for Photocopying

,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]
奥付

,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]
裏表紙

,  

[発表日]2013/2/6
[資料番号]