情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2008/02/01)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2008/2/1
[資料番号]
目次

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[発表日]2008/2/1
[資料番号]
CMOS LSIのESD/Latch-up故障の解析 : 実データでの故障モード解析(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

小日向 秀雄,  新井 雅之,  福本 聡,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-67
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

高橋 寛,  樋上 喜信,  相京 隆,  門山 周平,  渡部 哲也,  高松 雄三,  堤 利幸,  山崎 浩二,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-68
遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

相京 隆,  樋上 喜信,  高橋 寛,  吉川 達,  高松 雄三,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-69
マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

大森 悠翔,  小河 宏志,  細川 利典,  吉村 正義,  山崎 浩二,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-70
故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

冨田 健,  細川 利典,  山崎 浩二,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-71
スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

周藤 明史,  新井 雅之,  岩崎 一彦,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-72
平衡構造を利用した安全なスキャン設計(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

長谷川 宗士,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-73
二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

三浦 健宏,  難波 一輝,  伊藤 秀男,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-74
演算規則を用いたフォールトセキュアデータパスの合成について(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

塩道 寛貴,  吉川 祐樹,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-75
スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)

伊藤 侑磨,  吉村 正義,  安浦 寛人,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-76
高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

池田 直嗣,  大竹 哲史,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-77
テスト長制約下での欠陥検出率向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

井上 諒一,  細川 利典,  藤原 秀雄,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-78
テストパターンの静的圧縮における厳密解と貧欲解の比較(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)

八木澤 圭,  山崎 浩二,  細川 利典,  玉木 久夫,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-79
ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

土屋 秀和,  阿部 高也,  浅川 毅,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-80
ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

遠藤 辰朗,  新井 雅之,  岩崎 一彦,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-81
複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

加藤 二郎,  三浦 幸也,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-82
周期信号の自己訂正法(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

三浦 幸也,  

[発表日]2008/2/1
[資料番号]DC2007-83
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[発表日]2008/2/1
[資料番号]
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