情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2006/02/10)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2006/2/10
[資料番号]
目次

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[発表日]2006/2/10
[資料番号]
強可検査性を指向した高位合成におけるレジスタバインディングについて(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)

半田 郷,  武内 直哉,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-72
非パイプラインプロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)

山形 信博,  中里 昌人,  神戸 和子,  米田 友和,  大竹 哲史,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-73
状態可観測なFSMの故障非依存/依存テスト生成法(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)

井上 諒一,  細川 利典,  藤原 秀雄,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-74
LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

福本 聡,  黒川 晴申,  新井 雅之,  岩崎 一彦,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-75
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

門山 周平,  武智 清,  高橋 寛,  樋上 喜信,  山崎 浩二,  高松 雄三,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-76
自律的多段D B複製方法の実装および評価(ディペンダブルシステム,VLSI設計とテスト及び一般)

黒瀬 浩,  中沢 実,  服部 進実,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-77
回転機器故障診断システムの開発と評価(ディペンダブルシステム,VLSI設計とテスト及び一般)

小熊 康之,  角山 正博,  神野 洋一,  小川 昌幸,  佐藤 達雄,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-78
動的再構成方式メモリテスタ用の高位テスト記述とVHDLへの変換(メモリテイストとテスト生成複雑度,VLSI設計とテスト及び一般)

守屋 悟,  柳瀬 剛,  井口 幸洋,  亀山 修一,  嶋田 浩巳,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-79
A New Class of Sequential Circuits with Acyclic Test Generation Complexity(メモリテイストとテスト生成複雑度,VLSI設計とテスト及び一般)

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[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-80
ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)

森島 翔平,  詫間 茜,  梶原 誠司,  温 暁青,  前田 敏行,  浜田 周治,  佐藤 康夫,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-81
クロストークを考慮したクロック信号の生成・検出法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)

三浦 幸也,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-82
遷移遅延故障テストにおけるディレイ検出パス長計算の高速化手法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)

浜田 周治,  前田 敏行,  高取 厚夫,  野津山 泰行,  佐藤 康夫,  

[発表日]2006/2/10
[資料番号]DC2005-83
複写される方へ

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[発表日]2006/2/10
[資料番号]
奥付

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[発表日]2006/2/10
[資料番号]