情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2004/02/13)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2004/2/13
[資料番号]
目次

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[発表日]2004/2/13
[資料番号]
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト)

佐藤 雄一,  高橋 寛,  樋上 喜信,  高松 雄三,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-90
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト)

山本 幸大,  綾野 秀和,  高橋 寛,  樋上 喜信,  高松 雄三,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-91
Pass/Fail情報を用いた単一ブリッジ故障の診断における診断テストと故障モデルの関係(VLSI設計とテスト)

山崎 浩二,  高松 雄三,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-92
アナログLSIの測定精度,歩留,テスト時間の関係(VLSI設計とテスト)

小日向 秀雄,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-93
低消費電力基板型構造可変テスタの開発(VLSI設計とテスト)

佐藤 正幸,  板橋 裕行,  大塚 信行,  小林 康郎,  武藤 治,  新井 雅之,  福本 聡,  岩崎 一彦,  上原 孝二,  志水 勲,  間明田 治佳,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-94
データフローを考慮したプロセッサ自己テストのためのテンプレート生成(VLSI設計とテスト)

神戸 和子,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-95
プロセッサ自己テストのためのコントローラ入力時相空間制約(VLSI設計とテスト)

帆足 尚孝,  神戸 和子,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-96
テスト展開器のオーバヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて(VLSI設計とテスト)

越智 正邦,  新谷 道広,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-97
ランダムアクセススキャン : テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時開削減法(VLSI設計とテスト)

,  / 梶原 誠司,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-98
消費電力を考慮した連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化(VLSI設計とテスト)

高桑 寿一,  米田 友和,  藤原 秀雄,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-99
SoCのテスト実行時間最短化を目標としたコアのDFT選択手法(VLSI設計とテスト)

宮崎 政英,  細川 利典,  伊達 博,  村岡 道明,  藤原 秀雄,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-100
Classification of Sequential Circuits Based on Combinational Test Generation Complexity

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[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-101
部分再試行による多数決冗長方式(VLSI設計とテスト)

大原 衛,  新井 雅之,  福本 聡,  岩崎 一彦,  

[発表日]2004/2/13
[資料番号]DC2003-102
複写される方へ

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[発表日]2004/2/13
[資料番号]
奥付

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[発表日]2004/2/13
[資料番号]