基礎・境界/NOLTA-VLSI設計技術(開催日：2002/09/24)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2002/9/24
[資料番号]
目次

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[発表日]2002/9/24
[資料番号]
SPICEを使用した高精度クロストーク解析システム(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

大嶋 孝幸,  坂本 明広,  三角 和子,  藤田 陽子,  蓑田 幸男,  斎藤 敏幸,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-73
汎用PCクラスタを用いた並列回路シミュレーションシステム

桑田 公彦,  蜂屋 孝太郎,  斎藤 敏幸,  中田 登志之,  立川 江介,  杉谷 直樹,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-74
Yパラメタを用いたMOSFET高周波特性記述の検討(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

上野 弘明,  神保 聡,  河野 博昭,  森川 慶一,  中山 範明,  三浦 道子,  マタウシュ ハンス・ユルゲン,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-75
MOSFETマッチング特性の統計的評価とモデル化の検討(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

清水 由幸,  中村 光男,  松岡 俊匡,  谷口 研二,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-76
ESD保護素子の等価回路モデルの検討(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

安西 浩美,  戸坂 義春,  鈴木 邦広,  岡 秀樹,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-77
車載用ICのESDサージシミュレーション : 入出力保護ダイオードのESDサージ耐量(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

河野 憲司,  阿部 龍一郎,  浅井 昭喜,  樋口 安史,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-78
シリサイドブロックとコンタクト抵抗がESD保護素子の発熱に与える影響(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

松沢 一也,  松橋 豊明,  川島 博文,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-79
遺伝的アルゴリズムを用いた多目的最適化の検討(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

和田 哲典,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-80
遺伝的アルゴリズムを用いた,パラメータ抽出におけるグルーピング : BSIM3v3のモデルパラメータ抽出(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

佐藤 修平,  寺田 和夫,  寺内 衛,  

[発表日]2002/9/24
[資料番号]VLD2002-81
[OTHERS]

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[発表日]2002/9/24
[資料番号]