基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日：2009/11/13)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2009/11/13
[資料番号]
目次

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[発表日]2009/11/13
[資料番号]
シリコーンによる電気接点の接触信頼性(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

森井 真喜人,  森脇 弘之,  

[発表日]2009/11/13
[資料番号]R2009-41
ライフ・エンド評価の一考察 : ステップ・タイム評価(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

伊藤 貞則,  

[発表日]2009/11/13
[資料番号]R2009-42
高速InP HBTにおけるエミッタ電極の長期通電での劣化現象と高耐熱金属導入による高信頼化(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

深井 佳乃,  栗島 賢二,  柏尾 典秀,  井田 実,  山幡 章司,  榎木 孝知,  

[発表日]2009/11/13
[資料番号]R2009-43
複数の観測を考慮した2状態POMDPモデルにおける最適保全方策(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

林 憲一,  田村 信幸,  弓削 哲史,  柳 繁,  

[発表日]2009/11/13
[資料番号]R2009-44
ソフトウェア信頼性評価のための環境係数を用いたチェンジポイントモデル(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

井上 真二,  山田 茂,  

[発表日]2009/11/13
[資料番号]R2009-45
複写される方へ

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[発表日]2009/11/13
[資料番号]
Notice for Photocopying

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[発表日]2009/11/13
[資料番号]
奥付

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[発表日]2009/11/13
[資料番号]